[发明专利]一种二极电子元器件的检测装置

权利要求书

1.一种二极电子元器件的检测装置，其特征在于：包括基座（1）、测试针（2）和T型定位件（3）；T型定位件（3）上位于自身对称轴上的长杆的方向为竖直方向，与该长杆相连的横杆位于长杆上方；所述基座（1）上设置有一段竖直方向的导轨，所述T型定位件（3）与导轨匹配；所述测试针（2）固定在基座（1）上，且测试针（2）穿过T型定位件（3）的横杆后其上的测试端露出基座（1）；所述测试针（2）上套有缓冲弹簧（8），所述缓冲弹簧（8）上端固定在基座（1）上、下端抵在T型定位件（3）的横杆上；所述T型定位件（3）在导轨最下端的位置处时长杆露出基座（1）的长度大于测试针（3）的测试端露出基座（1）的长度。

2.根据权利要求1所述的一种二极电子元器件的检测装置，其特征在于：所述测试针（2）有2个，且对称地设置在T型定位件（3）的长杆两侧，分别穿过T型定位件（3）的横杆后露出基座（1）。

3.根据权利要求1所述的一种二极电子元器件的检测装置，其特征在于：T型定位件（3）的长杆末端端面形状与待测二极电子元器件（7）的外形匹配。

4.根据权利要求1所述的一种二极电子元器件的检测装置，其特征在于：所述基座（1）上设有基座安装孔（6），所述基座（1）通过基座安装孔（6）安装在行走机构上。

5.根据权利要求1所述的一种二极电子元器件的检测装置，其特征在于：所述基座（1）上的导轨为一个开口朝下的槽（4），所述T型定位件（3）置于槽（4）内；槽（4）从前到后的厚度尺寸与T形定位件（3）的厚度匹配；在槽（4）厚度方向的侧壁上设有竖直方向的缺口（5），所述T型定位件（3）长杆上固定有滑块，所述滑块与缺口（5）匹配；所述缺口（5）靠下的位置处设有挡块。

6.根据权利要求2所述的一种二极电子元器件的检测装置，其特征在于：所述测试针（2）与T型定位件（3）的横杆之间间隙配合。

7.根据权利要求3所述的一种二极电子元器件的检测装置，其特征在于：T型定位件（3）的长杆末端端面上设置有防滑垫。

8.根据权利要求5所述的一种二极电子元器件的检测装置，其特征在于：缓冲弹簧（8）的上端抵在槽（4）的上端面。