[发明专利]一种企业EDA设计平台运行环境基础性能测试方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种企业EDA设计平台运行环境基础性能测试方法。

背景技术

目前，单独针对EDA设计平台系统的性能测试方法并没有一个标准的方法，一般类似对于系统应用平台性能的测试方法还主要集中在基准测试方法上，即采取制定符合一定理论验证规律的方法、工具以及系统，从而对某一类测试对象的相关性能指标进行定量测试和可对比测试。其中，基准测试可以分为三种：微观测试、宏观测试和跟踪重现法。

微观测试主要针对待测系统某一个或多个具体的操作性能进行测试，其测试负载通常由不同类型的操作组成，并以此来验证文件系统某一方面或者某些方面的特征。其优点是能从微观的角度帮助用户分析和了解文件系统某些特点方面的性能，且测试结果简洁明了；但不足之处是：容易造成测试覆盖率低，以及单独硬件上的微观测试所反映性能难以全面衡量整体系统的实际工作性能。

宏观测试是通过模拟待测系统的真实工作负载来对待测系统的综合性能进行评估。其采用尽量贴近实际负载要求进行待测系统应用的行为模拟。其优点是能从类似实际负载的角度来模拟典型性的现实需求；不过这种方法同样存在诸如类型单一、负载偏离、配置不灵活等问题。

跟踪重现法则是通过采集实际负载下的待测系统操作日志记录，并按照设定的格式记录在跟踪文件中，然后在测试时依照所采集到的跟踪文件中的跟踪记录再次向待测系统提出读写请求，由此来对待测系统的真实应用行为进行性能评估。

发明内容

本发明的目的在于提供一种企业EDA设计平台运行环境基础性能测试方法，用于从微观的角度帮助用户分析和了解文件系统某些特点方面的性能，且测试结果简洁明了。

为实现上述目的，本发明采用了如下技术方案：

一种企业EDA设计平台运行环境基础性能测试方法，它包括如下步骤：

1)平台运行环境的基础读操作和写操作两向带宽测试，即通过模拟设计过程中可能出现的多个数据接口操作的虚拟场景来进行测试；

2)设计操作吞吐量测试，即通过交叉循环操作方式对EDA设计平台运行环境的数据文件操作吞吐量进行测试；

3)集成电路设计典型应用模拟测试，即通过构建多线程可扩展的负载模型来测试在企业实际集成电路设计工作情况下此平台运行环境的有效应用性能。

步骤1)中读操作和写操作类型分为：

读操作：顺序、随机、倒序、跳跃、内存映射；

写操作：顺序、随机、覆盖、内存映射；

读写混合操作；

所述顺序读操作分为：读、重读，“读”是通过顺序读数据文件来测试性能，“重读”是通过二次读取文件中数据来测试性能；

所述随机读操作是通过随机读取数据文件某处参考点来测试性能；

所述倒序读操作是通过倒序读数据文件来测试性能；

所述跳跃读操作是通过固定间隔跳跃读数据文件各个参考点来测试性能；

所述内存映射读操作是通过内存映射机制读取数据文件来测试性能；

所述顺序写操作分为：写、重写，“写”是通过顺序写数据文件来测试性能，“重写”是通过二次写入同文件中数据来测试性能；

所述随机写操作是通过随机写入已有数据文件某处参考点数据来测试性能；

所述覆盖写操作是通过写入同文件中相同位置数据来测试性能；

所述内存映射写操作是通过内存映射机制写入数据文件来测试性能；

所述读写混合操作是通过对数据文件进行读取和写入随机混合大小(F_n)等于文件容量大小的极小值(F_min)，则停止测试轮回，清除全部测试数据文件。

优选的，所述步骤2)中依次包括：

(f)配置测试参数；

(g)运行数据文件批量生成操作，启动测试，记录测试开始时间(T_start)，并按照配置的并发文件数量以及文件平均大小参数，顺序批量创建文件，记录随机交叉循环测试操作开始时间(t_start)；

(h)运行随机交叉循环测试操作，以配置的各类型设计操作比重为依据，随机交叉运行不同的设计操作；其具体操作步骤包括：

①判断是否需要运行读/添加操作，如果无需运行则转向步骤②，如果需运行操作则按照读/写操作比例生成某个随机值，然后用这个随机值来判断此次循环是否需要运行读操作，若是，则执行一次读操作，反之，则执行一次添加操作；