[发明专利]一种企业EDA设计平台运行环境基础性能测试方法

权利要求书

1.一种企业EDA设计平台运行环境基础性能测试方法，其特征在于，它包括如下步骤：

1)平台运行环境的基础读操作和写操作两向带宽测试，即通过模拟设计过程中可能出现的多个数据接口操作的虚拟场景来进行测试；

2)设计操作吞吐量测试，即通过交叉循环操作方式对EDA设计平台运行环境的数据文件操作吞吐量进行测试；

3)集成电路设计典型应用模拟测试，即通过构建多线程可扩展的负载模型来测试在企业实际集成电路设计工作情况下此平台运行环境的有效应用性能。

2.根据权利要求1所述的企业EDA设计平台运行环境基础性能测试方法，其特征在于，所述步骤1)中依次包括：

(a)选取测试参考点，统计基础环境实时的数据接口运作的产生规律，构建测试参考点的IO操作模型；

(b)配置测试数据文件，以文件容量大小(F_n)、数据块大小(B_n)为依据，分列各类数据文件，并使数据块大小的极大值(B_max)小于或等于文件容量大小的极小值(F_min)；

(c)初始化数据，测试文件内容的生成、参考节点的选择和生成以及待写入数据的区分和生成；

(d)运行并统计一轮测试流程，启动/停止测试监控，按照每一轮测试的文件大小和数据块大小执行相应的测试操作，然后记录并统计单位时间内的读写数据量、相应文件大小及数据块大小；

(e)自主倍增递进流程，测试文件内容的生成、参考节点的选择和生成以及待写入数据的区分和生成。

3.根据权利要求1所述的企业EDA设计平台运行环境基础性能测试方法，其特征在于，所述步骤2)中依次包括：

(f)配置测试参数；

(g)运行数据文件批量生成操作，启动测试，记录测试开始时间(T_start)，并按照配置的并发文件数量以及文件平均大小参数，顺序批量创建文件，记录随机交叉循环测试操作开始时间(t_start)；

(h)运行随机交叉循环测试操作，以配置的各类型设计操作比重为依据，随机交叉运行不同的设计操作；

(i)运行批量文件清除操作，记录随机交叉循环测试操作结束时间(t_end)，然后批量清除所有剩余测试数据文件并记录测试结束时间(T_end)；

(j)统计各项吞吐量测试指标。

4.根据权利要求1或3所述的企业EDA设计平台运行环境基础性能测试方法，其特征在于，所述吞吐量包括吞吐总量、批量吞吐量和交叉吞吐量。

5.根据权利要求3所述的企业EDA设计平台运行环境基础性能测试方法，其特征在于，所述步骤(h)中，运行随机交叉循环测试操作包括：

①判断是否需要运行读/添加操作，如果无需运行则转向步骤②，如果需运行操作则按照读/写操作比例生成某个随机值，然后用这个随机值来判断此次循环是否需要运行读操作，若是，则执行一次读操作，反之，则执行一次添加操作；

②判断是否需要运行生成/清除操作，如果无需运行则转向步骤③，如果需运行操作则按照生成/清除操作比例生成某个随机值，然后用这个随机值来判断此次循环是否需要运行生成操作，若是，则执行一次生成操作，反之，则执行一次清除操作；

③将设计操作的运行次数累加一次，判断设计操作运行次数是否达到初始设定值，若是，则设计的随机交叉循环操作阶段结束，开始测试数据文件的批量删除步骤；否则转向步骤①。

6.根据权利要求1所述的企业EDA设计平台运行环境基础性能测试方法，其特征在于，所述步骤3)中依次包括：

(k)集成电路设计典型应用的负载特点分析；

(I)初始仿真流程图制定；

(m)初始测试参数选定；

(n)初始测试负载选定；

(o)运行测试流程，监控实时测试进程，多线程同步控制并记录测试操作的信息。

7.根据权利要求6所述的企业EDA设计平台运行环境基础性能测试方法，其特征在于，步骤(o)中，运行测试流程包括：

(I)运行主线程测试，并按照指定的初始电路图文件数量、单个项目文件夹下的平均电路数量以及平均电路大小分配测试初始文件集；

(II)运行测试监控，依据初始指定的并发线程数目开启多个测试仿真线程，模仿多个终端对EDA设计平台服务器进行同时并发访问和电路仿真的情况；

(III)多个电路仿真线程并发执行仿真流程图中设定的操作，分别为清除历史仿真波形文件、运行后仿真进程、生成仿真波形文件、读取后仿真波形文件、向仿真文件添加后期仿真内容、连续执行设定次数的后仿真操作；

(IV)在第(III)步进行的同时，主线程对所有电路仿真线程进行监控，直到所有的仿真线程运行结束。