[发明专利]彩膜基板及其制作方法、显示装置无效

专利信息
申请号: 201410112809.3 申请日: 2014-03-24
公开(公告)号: CN103926743A 公开(公告)日: 2014-07-16
发明(设计)人: 谷新;铃木照晃;秦广奎;金起满;鹿岛美纪;杨亚锋 申请(专利权)人: 京东方科技集团股份有限公司
主分类号: G02F1/1335 分类号: G02F1/1335
代理公司: 北京中博世达专利商标代理有限公司 11274 代理人: 申健
地址: 100015 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 彩膜基板 及其 制作方法 显示装置
【权利要求书】:

1.一种彩膜基板,包括:基板、设置在所述基板上的黑矩阵和透明导电层,其特征在于,所述彩膜基板满足下述中的至少一项:

所述透明导电层的上方设置有透明介质层,所述透明介质层的折射率为1.5~2.0,厚度为600~1000埃;或者,

所述透明导电层的下方设置有透明介质层,所述透明介质层的折射率为1.5~2.0,厚度为600~1000埃;或者,

所述黑矩阵远离彩膜基板对盒面的一侧设置有介质层,所述介质层的折射率为1.5~2.0,厚度为600~1000埃。

2.根据权利要求1所述的彩膜基板,其特征在于,

所述透明介质层的厚度、折射率的取值,或者所述介质层的厚度、折射率的取值均经过优化,使得远离彩膜基板对盒面一侧的入射光的反射率最小。

3.根据权利要求1所述的彩膜基板,其特征在于,所述透明介质层和/或所述介质层为:氮化硅层。

4.根据权利要求1所述的彩膜基板,其特征在于,

所述透明导电层的材质为氧化铟锡,厚度为400埃;

所述透明介质层的材质为氮化硅,厚度为800埃。

5.根据权利要求3或4所述的彩膜基板,其特征在于,

所述介质层的材质为氮化硅,厚度为800埃。

6.根据权利要求1所述的彩膜基板,其特征在于,所述介质层形成有与所述黑矩阵相同的图案。

7.根据权利要求1所述的彩膜基板,其特征在于,

所述透明导电层设置在所述基板远离对盒面的一侧,所述黑矩阵设置在所述基板靠近对盒面的一侧。

8.一种显示装置,其特征在于,包括:权利要求1-7任意一项所述的彩膜基板。

9.一种彩膜基板的制作方法,其特征在于,包括:

在基板上依次形成第一透明介质层、透明导电层和第二透明介质层;

在所述基板不存在膜层的另一侧形成介质层,然后在所述介质层上形成黑矩阵;

进行刻蚀,在所述介质层形成与所述黑矩阵相同的图案。

10.根据权利要求9所述的制作方法,其特征在于,

所述第一透明介质层、所述第二透明介质层均为氮化硅层,且厚度均为800埃;

所述介质层为氮化硅层,厚度为800埃。

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