[发明专利]一种氰根电位滴定分析方法

权利要求书

1.一种氰根电位滴定分析方法，其特征在于，包括：

将矿浆过滤成澄清溶液；

向所述澄清溶液中加入反应剂去除所述澄清溶液中的硫离子；

向去除硫离子后的溶液中加入pH缓冲试剂，得到弱碱性溶液；

将滴定剂定量滴定入所述弱碱性溶液，同时检测所述弱碱性溶液中设置的复合银环电极的电位；

根据滴定剂消耗的体积以及对应的复合银环电极的电位值，计算出氰根浓度。

2.根据权利要求1所述的氰根电位滴定分析方法，其特征在于，所述将矿浆过滤成澄清溶液，包括：

使用定性滤纸或滤芯将矿浆过滤成浊度<10NTU的澄清溶液。

3.根据权利要求2所述的氰根电位滴定分析方法，其特征在于，所述向所述澄清溶液中加入反应剂去除所述澄清溶液中的硫离子，包括：

向所述澄清溶液中加入反应剂，直到不再产生沉淀，将沉淀过滤掉，得到去除硫离子的溶液，其中，所述反应剂为醋酸铅溶液。

4.根据权利要求3所述的氰根电位滴定分析方法，其特征在于，所述向去除硫离子后的溶液中加入pH缓冲试剂，得到弱碱性溶液，包括：

取定量的去除硫离子后的溶液；

向定量的去除硫离子后的溶液中加入pH缓冲试剂，得到pH值为9±1的弱碱性溶液，其中，所述pH缓冲试剂为四硼酸钠溶液。

5.根据权利要求4所述的氰根电位滴定分析方法，其特征在于，所述醋酸铅溶液为0.1mol/L，所述四硼酸钠缓冲溶液为0.01mol/L，所述定量的向去除硫离子后的溶液为2～10ml。

6.根据权利要求5所述的氰根电位滴定分析方法，其特征在于，所述将滴定剂定量滴定入所述弱碱性溶液，同时检测所述弱碱性溶液中设置的复合银环电极的电位，包括：

将0.05mol/L的滴定剂定量滴定入所述弱碱性溶液，在滴定过程中记录滴定剂消耗的体积及复合银环电极对应的电位值，其中，所述滴定剂为AgNO₃溶液。

7.根据权利要求6所述的氰根电位滴定分析方法，其特征在于，所述根据滴定剂消耗的体积以及对应的复合银环电极的电位值，计算出氰根浓度，包括：

采用二级微分法计算滴定等当点，当复合银环电极的电位值达到等当点时，根据此时所消耗的滴定剂体积计算氰根的浓度。