[发明专利]一种晶圆完整性的侦测方法及晶圆导向器有效

专利信息
申请号: 201410080793.2 申请日: 2014-03-06
公开(公告)号: CN104900552B 公开(公告)日: 2018-12-14
发明(设计)人: 李强 申请(专利权)人: 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
主分类号: H01L21/66 分类号: H01L21/66;H01L21/673;H01L21/68
代理公司: 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 代理人: 李仪萍
地址: 201203 *** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 完整性 侦测 方法 导向
【权利要求书】:

1.一种晶圆完整性的侦测方法,其特征在于,至少包括以下步骤:

S1:提供一装设有第一称重仪的第一晶圆导向器,在所述第一晶圆导向器中装入至少一片晶圆,并通过所述第一称重仪测得装入晶圆的总重量,得到第一重量值;

S2:将所述第一重量值与机台电脑内设定的第一设定值进行比较,若差值在第一预设范围内,则判断晶圆完整,可以继续进行后续制程;若差值超出所述第一预设范围,则判断晶圆有残缺;所述第一设定值通过将晶圆片数乘以单片完整晶圆的重量计算得到,所述单片完整晶圆的重量根据晶圆所经前一道工序确定。

2.根据权利要求1所述的晶圆完整性的侦测方法,其特征在于:所述第一预设范围为0~5克。

3.根据权利要求1所述的晶圆完整性的侦测方法,其特征在于:所述第一称重仪与所述机台电脑相连;所述机台电脑将所述第一重量值与所述第一设定值进行比较,做出相应判断。

4.根据权利要求1所述的晶圆完整性的侦测方法,其特征在于,所述后续制程为:将所述晶圆导向器内的晶圆放入湿槽内进行清洗。

5.根据权利要求4所述的晶圆完整性的侦测方法,其特征在于:将清洗完毕的晶圆装入装设有第二称重仪的第二晶圆导向器,并通过该称重仪测得装入晶圆的总重量,得到第二重量值;然后将所述第二重量值与所述机台电脑内设定的第二设定值进行比较,若差值在第二预设范围内则判断晶圆完整,可以继续进行下一道工艺;若差值超出第二预设范围,则判断有晶圆碎片残留在清洗槽中。

6.根据权利要求5所述的晶圆完整性的侦测方法,其特征在于:所述第二预设范围为0~5克。

7.根据权利要求5所述的晶圆完整性的侦测方法,其特征在于:所述第二称重仪与所述机台电脑相连;所述机台电脑将所述第二重量值与所述第二设定值进行比较,做出相应判断。

8.一种晶圆导向器,包括若干平行排列的用于承载晶圆的凹槽,其特征在于:所述晶圆导向器装设有称重仪,用于测得装入晶圆的总重量。

9.根据权利要求8所述的晶圆导向器,其特征在于:所述称重仪装设于所述晶圆导向器底部。

10.根据权利要求8所述的晶圆导向器,其特征在于:所述称重仪与机台电脑相连,用于将测得的重量值输入所述机台电脑。

11.根据权利要求10所述的晶圆导向器,其特征在于:所述晶圆导向器旁设有与所述机台电脑相连的数片器,用于将所述晶圆导向器中装入的晶圆片数输入所述机台电脑以得到重量设定值。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中芯国际集成电路制造(上海)有限公司,未经中芯国际集成电路制造(上海)有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201410080793.2/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top