[发明专利]一种岸对海雷达自动录取能力的测评方法及系统有效
申请号: | 201410078614.1 | 申请日: | 2014-03-05 |
公开(公告)号: | CN103837866A | 公开(公告)日: | 2014-06-04 |
发明(设计)人: | 鉴福升;罗军;曾浩;徐勇;胡英辉;李洁;李庶中;张杨;汪洋;李越强 | 申请(专利权)人: | 中国人民解放军92232部队 |
主分类号: | G01S7/40 | 分类号: | G01S7/40 |
代理公司: | 北京法思腾知识产权代理有限公司 11318 | 代理人: | 杨小蓉 |
地址: | 100161 北京市*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 雷达 自动 录取 能力 测评 方法 系统 | ||
1.一种岸对海雷达自动录取能力的测评方法,所述方法包含:
步骤101)采集岸对海雷达输出的点迹得到雷达点迹序列、采集岸对海雷达输出的航迹得到航迹序列,并采集AIS设备接收的船只的动态信息和静态信息得到目标船只的AIS信息序列,存储得到的雷达点迹序列、航迹序列和目标的AIS信息序列;
步骤102)对目标的AIS信息序列进行坐标转换和插值,将插值处理后得到的数据与雷达点迹序列进行匹配,再根据匹配结果修正插值处理后得到的AIS信息序列,将修正后的结果作为目标真值数据;
将目标真值数据和雷达航迹进行匹配,根据各个匹配结果采用统计学方法获得自动录取能力指标集中的各个指标值,所述指标集包含:航迹漏情率、航迹正确率、航迹起始时间、航迹质量,且所述航迹质量又分为:航迹精度、点迹丢失率、航迹零碎度;
步骤103)将得到的各指标值归一化并加权求和,获得自动录取能力的评估结果。
2.根据权利要求1所述的岸对海雷达自动录取能力的测评方法,其特征在于,所述步骤102)包含:
步骤102-1)将采集的目标AIS序列数据根据雷达位置转化到雷达坐标系,其中,所述雷达位置采用经纬度、纬度和高度表征;
步骤102-2)根据岸对海雷达观测的方位和距离范围,筛选雷达点迹序列、航迹序列和目标的AIS信息序列数据,进而去除多余数据;
步骤102-3)根据雷达点迹序列的时间信息,对目标的AIS信息序列进行插值,得到时间间隔均匀的AIS信息序列,然后按照AIS静态信息对AIS信息序列分组,且划分得到的每组AIS信息序列对应1个目标,进而统计得到目标的总数量;
步骤102-4)将每组AIS信息序列数据分别与筛选得到的雷达点迹按照时间、位置进行匹配,根据匹配结果,估计并修正每组AIS数据的系统误差,修正后的AIS数据作为目标真值数据(Ta1、Ta2、Ta3……),统计对应的雷达点迹序列总的点迹数,得到点迹总数量;
步骤102-5)筛选得到的航迹序列数据,按照雷达航迹批号进行分组(Tt1、Tt2、Tt3……),并统计总航迹数量;
步骤102-6)按照时间和位置,将每组真值数据,逐个与每组航迹序列数据比对,且能与真值数据匹配的航迹序列数据为正确航迹,与真值数据匹配点少于2点的航迹序列数据为非正确航迹,其中当某组真值数据没有航迹序列与之匹配则对应目标为漏情;
根据比对结果得到正确航迹数量、非正确航迹数量、与真值数据匹配的航迹点数量、漏掉目标数量,进而计算航迹漏情率、航迹正确率、航迹起始时间、航迹精度和航迹零碎度。
3.根据权利要求2所述的岸对海雷达自动录取能力的测评方法,其特征在于,所述步骤102-6)包含:
步骤102-6-1)从第1组目标真值数据开始,按照时间、位置逐组遍历比对航迹序列数据,得到目标号与雷达航迹批号的匹配关系,同时统计正确航迹数量、非正确航迹数量、与真值数据匹配的航迹点数量和漏掉的目标数量;
步骤102-6-2)根据如下公式分别计算各项指标:
航迹漏情率:漏掉目标数量/目标总数量;
航迹正确率:正确航迹数量/(航迹总数量-非正确航迹数量);
航迹起始时间:所述航迹起始时间为雷达录取目标从点迹形成到建立可靠航迹的时间,假定目标Ai的航迹起始时间为,目标数量为N,则雷达录取的航迹起始时间为:
航迹精度:所述航迹精度为录取的航迹数据与目标真值数据的误差,包括航迹距离精度和方位精度;
点迹丢失率:所述点迹丢失率为雷达录取时漏掉感知范围内目标点迹的比例,计算公式为:航迹点数量/点迹数量;
航迹零碎度:所述航迹零碎度为雷达录取得到的目标航迹总数与输出航迹对应目标总数的比值。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国人民解放军92232部队,未经中国人民解放军92232部队许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201410078614.1/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种基准面磨削工装
- 下一篇:一种适用于雷达冷却装置试验用模拟负载系统