[发明专利]用于检验电子元件的装置有效
| 申请号: | 201410075123.1 | 申请日: | 2014-03-03 |
| 公开(公告)号: | CN103941115B | 公开(公告)日: | 2017-06-13 |
| 发明(设计)人: | G·斯坦尼斯泽维斯基;M·彼得曼;G·吉克文德伯格 | 申请(专利权)人: | 马提特斯电子系统有限公司 |
| 主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00;G01R1/073 |
| 代理公司: | 北京高文律师事务所11359 | 代理人: | 程义贵 |
| 地址: | 德国罗森*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 用于 检验 电子元件 装置 | ||
1.用于检验电子元件的装置,该装置具有至少一个用于接触电子元件(17)的检验管座(13)并具有一个电耦合于检验管座(13)上的测试头,其特征在于,为了在检验管座(13)和测试头之间传输信号,设置一个转接板(1),该转接板在其面对检验管座(13)的那一侧上具有适配于检验管座(13)的触点位置的接触面(2),并且其背离检验管座(13)的那一侧设置有适配于连接板(6)的或测试头的触针(10)位置的接触套筒(4),其中所述接触面(2)与各个相应的接触套筒(4)导电地连接。
2.根据权利要求1的用于检验电子元件的装置,其特征在于,转接板(1)一侧上的接触面(2)的位置独立于在转接板(1)相对侧上的相应的接触套筒(4)的位置进行布置。
3.根据权利要求1的用于检验电子元件的装置,其特征在于,转接板(1)构造为印制电路板。
4.根据权利要求1的用于检验电子元件的装置,其特征在于,将接触套筒(4)插入转接板(1)的盲孔(3)中。
5.根据权利要求1的用于检验电子元件的装置,其特征在于,将接触套筒(4)与转接板(1)焊接。
6.根据权利要求5的用于检验电子元件的装置,其特征在于,接触套筒(4)具有环状的法兰(5),并且仅仅该法兰(5)与转接板(1)的表面焊接。
7.根据权利要求1至6之一的用于检验电子元件的装置,其特征在于,在转接板(1)和测试头之间设置具有可替换的触针(10)的连接板(6),该触针既从面对转接板(1)的那一侧也从面对测试头的那一侧从表面突出。
8.根据权利要求7的用于检验电子元件的装置,其特征在于,连接板(6)具有两个彼此连接的部分(7、8),所述部分为了触针(10)的替换可彼此分离并再次连接。
9.根据权利要求7的用于检验电子元件的装置,其特征在于,连接板(6)具有温度隔离层(7)。
10.根据权利要求7的用于检验电子元件的装置,其特征在于,连接板(6)在其面对测试头的那一侧上可用空气吹扫。
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