[发明专利]一种基于宽场受激发射差分的显微方法和装置有效
申请号: | 201410071793.6 | 申请日: | 2014-02-28 |
公开(公告)号: | CN103852458A | 公开(公告)日: | 2014-06-11 |
发明(设计)人: | 匡翠方;蔡欢庆;葛剑虹;刘旭 | 申请(专利权)人: | 浙江大学 |
主分类号: | G01N21/64 | 分类号: | G01N21/64;G02B21/06;G02B21/36 |
代理公司: | 杭州天勤知识产权代理有限公司 33224 | 代理人: | 胡红娟 |
地址: | 310027 浙*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 受激发射 显微 方法 装置 | ||
1.一种基于宽场受激发射差分的显微方法,其特征在于,包括以下步骤:
1)第一激光光束准直处理后,经物镜聚焦到荧光样品表面进行宽场照明,收集荧光样品发出的荧光,得到宽场照明下的第一样品图像;
2)将第二激光光束分为四束线偏光后,经物镜聚焦到荧光样品表面并形成干涉光斑,所述干涉光斑中的亮斑部分对荧光样品进行照明并激发荧光,并采集荧光得到干涉光斑照明下的第二样品图像;
其中,所述四束线偏光包括两组的平行偏振光和垂直偏振光;
3)对步骤1)和步骤2)中的两幅样品图像进行差分处理,得到所述干涉光斑中暗斑部分的显微图像。
2.如权利要求1所述的基于宽场受激发射差分的显微方法,其特征在于,在所述的步骤3)之后,控制干涉光斑在样品表面移动,得到完整的样品图像。
3.如权利要求2所述的基于宽场受激发射差分的显微方法,其特征在于,干涉光斑在样品表面移动一个光斑大小的距离,所述的光斑为干涉光斑中的亮斑或暗斑。
4.如权利要求1所述的基于宽场受激发射差分的显微方法,其特征在于,所述的第二激光光束依次通过两块渥拉斯顿棱镜后,分为四束线偏光。
5.如权利要求1所述的基于宽场受激发射差分的显微方法,其特征在于,所述的第一激光光束和四束线偏光以大于物镜全反射角的角度进入所述的物镜。
6.一种基于宽场受激发射差分的显微装置,其特征在于,包括:
第一激光器和第二激光器;
位于第二激光器的光路上的分光组件,用于将第二激光器发出的光束分为四束线偏光,所述的四束线偏光包括两组的平行偏振光和垂直偏振光;
物镜,用于将第一激光器和第二激光器发出的光束聚焦于荧光样品表面并收集激发荧光;
探测器,用于将收集的荧光信号转化为电信号;
计算机,用于处理探测器上传的信号。
7.如权利要求6所述的基于宽场受激发射差分的显微装置,其特征在于,所述的分光组件为依次布置在第二激光器光路上的第一渥拉斯顿棱镜和第二渥拉斯顿棱镜。
8.如权利要求6所述的基于宽场受激发射差分的显微装置,其特征在于,还包括受控于计算机的扫描振镜系统,用于控制干涉光斑在荧光样品表面移动。
9.如权利要求6所述的基于宽场受激发射差分的显微装置,其特征在于,还包括滤波片,用于过滤进入探测器的非信号光。
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