[发明专利]检测芯片的方法

权利要求书

1.一种检测芯片的方法，包含：

提供多个芯片，包含至少一第一部分芯片；以及

以一非人工方式判断每一个该些多个芯片，包含提供一第一检测条件判断每一个该些多个芯片，筛选出该些第一部分芯片，其中该些第一部分芯片通过该第一检测条件，以及提供一第二检测条件判断每一个该些第一部分芯片为一第一类芯片或一第二类芯片，其中该第二检测条件较该第一检测条件包含较多的项目或较窄的范围。

2.如权利要求1所述的检测芯片的方法，还包含提供一第三检测条件检测该些第二类芯片。

3.如权利要求2所述的检测芯片的方法，其中该第一检测条件、该第二检测条件以及该第三检测条件包含判断该些多个芯片的外观、电性或光学特性。

4.如权利要求2所述的检测芯片的方法，其中该些第二类芯片包含至少一第三类芯片，该些第三类芯片通过该第三检测条件。

5.如权利要求4所述的检测芯片的方法，还包含将该些第一类芯片及该些第三类芯片入库。

6.如权利要求1所述的检测芯片的方法，其中每一该多个芯片具有一特性数据。

7.如权利要求6所述的检测芯片的方法，还包含依据该特性数据分类该些第一类芯片以及该些第二类芯片。

8.如权利要求6所述的检测芯片的方法，还包含再次检验该些第二类芯片以取得每一该些第二类芯片的一二次特性数据，以及依据该二次特性数据分类该些第二类芯片。

9.如权利要求2所述的检测芯片的方法，其中提供该第三检测条件检测该些第二类芯片的方式包含人工目检。

10.如权利要求1所述的检测芯片的方法，还包含提供一机器包含一程序执行该第一检测条件以及该第二检测条件。