[发明专利]基于五项最大旁瓣衰减窗三谱线插值测试SFDR的方法

权利要求书

1.一种基于五项最大旁瓣衰减窗三谱线插值测试SFDR的方法，其特征在于包括如下步骤：

步骤1：SFDR测试程序设置正弦模拟输入信号频率f_i、采样频率f_s、需要考虑的最大谐波阶数M以及采样数据长度N；

步骤2：基于ADC测试系统以采样频率f_s得到N点长度的采样数据；

步骤3：构造N点长度的五项最大旁瓣衰减窗，并对N点长度的采样数据进行加窗FFT运算，得到FFT谱线X(k)，k＝0，1，...，N，其中FFT运算长度为N；

步骤4：对基波和各次谐波在FFT谱线中搜索幅值最大的谱线及其左右两根谱线，得到左右两根谱线幅值之差与最大谱线幅值的比值；

步骤5：采用多项式逼近的方式得到基波和各次谐波的插值系数计算公式；

步骤6：通过插值运算得到基波和各次谐波的修正幅值，将其代入ADC SFDR计算公式，得到测试结果，ADC SFDR计算公式为：

SFDR=20log10RMSsignalRMSspu_max---(1)]]>

其中，RMS_signal为输入信号基波分量的均方根值；RMS_{spu_max}为采样波形频谱中最大失真谐波分量或最大杂散信号的均方根值。

2.根据权利要求1所述的基于五项最大旁瓣衰减窗三谱线插值测试SFDR的方法，其特征在于：步骤3中，所述的五项最大旁瓣衰减窗函数的构造方法为：

w(n)=Σl=04(-1)lclcos(2πn·lN)---(2)]]>

其中，c₀＝0.2734375，c₁＝0.4375，c₂＝0.21875，c₃＝0.0625，c₄＝0.0078125；N为窗函数的长度；n＝0，1，...，N-1。