[发明专利]基于SIFT和归一化互信息的SAR图像配准方法有效

专利信息
申请号: 201410066507.7 申请日: 2014-02-26
公开(公告)号: CN103839265B 公开(公告)日: 2017-05-24
发明(设计)人: 王爽;焦李成;王云飞;陈凯;马文萍;马晶晶;侯彪;张楠 申请(专利权)人: 西安电子科技大学
主分类号: G06T7/38 分类号: G06T7/38
代理公司: 西安智萃知识产权代理有限公司61221 代理人: 李东京
地址: 710071 陕西省*** 国省代码: 陕西;61
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 基于 sift 归一化 互信 sar 图像 方法
【说明书】:

技术领域

发明属于图像处理技术领域,具体涉及一种基于SIFT和归一化互信息的SAR图像配准方法,应用于图像融合、目标检测、地景与地图的匹配和图像导航等领域。

背景技术

合成孔径雷达(Synthetic Aperture Radar,SAR)是一种远距离、非接触的对地观测工具。作为主动式成像雷达,具有全天候、全天时工作的特点,并且能有效地识别伪装和穿透地表植被,得到高分辨率的SAR图像,其日益成为最具有代表性的对地观测手段之一。配准的方法大致可分为两类:基于灰度相关的图像配准方法和基于特征的图像配准方法。

基于灰度相关的图像配准方法虽然比较直观,容易实现,但容易受到噪声的影响,而且匹配利用的是图像的统计特性,计算量也很大。

基于特征点的图像配准方法对灰度变化有较强适应能力,且计算量小,能够处理图像间大失配的情况。常见的特征点检测算法有:Moravec特征点检测算法、SUSAN特征点检测算法、Harris特征点检测算法和SIFT特征点检测算法。四种算子中,Moravec算子抗噪性比较差,对旋转敏感;Harris算子是最不稳定的一种;SUSAN算子匹配性能较差,点匹配的应用上较少;SIFT特征点的信息丰富,相比其它三种算子,基于SIFT特征向量欧氏距离的匹配策略要更准确和更稳定,这正是SIFT特征点独有的优势。

1999年David G.Lowe总结了现有的基于不变量技术的特征检测方法,并正式提出了一种基于尺度空间的、对图像缩放、旋转甚至仿射变换保持不变性的图像局部特征描述算子-SIFT,这种算法在2004年被加以完善;2012年,文章《Modified SIFT for multi-modal remote sensing image registration》在原SIFT方法的基础上进行修改,提出了MM-SIFT方法,以改善遥感图像的配准效果。

SIFT算法在自然图像配准中效果比较好,而应用到SAR图像时,会出现很多问题。首先,受SAR图像相干斑噪声的影响,很可能将噪点检测为特征点,这样就会导致错误的配准结果;其次,机载SAR图像受实际条件的干扰,可能亮度、对比度比较暗,不能直接对SAR图像进行匹配,否则,得不到正确的匹配点对;最后,在初始匹配后,误匹配不可避免,这对配准结果影响很大。如何快速有效地剔除误匹配点对、提高配准的精度是非常重要的研究方向。

发明内容

本发明的目的是针对上述已有技术的不足,提出一种基于SIFT和归一化互信息的SAR图像配准方法,以提高SAR图像配准的精度和鲁棒性,实现SAR图像配准。

本发明的技术方案是提出一种基于SIFT和归一化互信息的SAR图像配准方法,其特征在于:包含以下步骤:

步骤1:输入两幅SAR图像,其中,一幅是基准图像I1,另一幅是待配准图像I2,对两幅SAR图像分别进行预处理,首先采用瑞利分布,增强系数为0.2对两幅SAR图像基准图像I1、待配准图像I2进行限制对比度直方图均衡(Contrast Limited Adaptive Histogram Equalization,CLAHE)增强,然后采用db1小波,分解层数为2~3进行小波分解;

步骤2:用MM-SIFT方法对两幅SAR图像分别进行特征提取,得到初始特征点对Fc和SIFT特征向量Fv1、Fv2

步骤3:用SIFT特征向量Fv1、Fv2进行初始匹配;

步骤4:用单应矩阵模型的RANSAC策略对初始特征点对Fc进行二次筛选,得到最终正确的匹配点对Fm,然后采用最小二乘法求出配准参数pr;

步骤5:用仿射变换对待配准图像I2进行空间变换,然后经过插值和重采样,得到粗配准后的图像I3

步骤6:使用上述配准参数pr作为归一化互信息配准的初始值,采用归一化互信息方法对两幅SAR图像基准图像I1和粗配准后的图像I3进行精配准,求得最终配准参数pr1,并且输出配准后的图像I4

上述步骤2中所述的MM-SIFT方法进行特征提取的具过程包括如下:

2.1高斯模糊和尺度空间生成

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西安电子科技大学,未经西安电子科技大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201410066507.7/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top