[发明专利]基于窗函数设计的滤波器性能检测方法和系统

权利要求书

1.一种基于窗函数设计的滤波器性能检测方法，其特征在于，包括如下步骤：

计算基于窗函数设计的滤波器的频谱函数；

确定所述频谱函数的实部和虚部，并根据所述实部和虚部获取滤波器的频谱主瓣宽度；

求解频谱函数的旁瓣峰值，获得滤波器的旁瓣峰值；

根据所述频谱主瓣宽度和旁瓣峰值确定滤波器的滤波性能。

2.根据权利要求1所述的基于窗函数设计的滤波器性能检测方法，其特征在于，计算基于窗函数设计的滤波器的频谱函数的公式包括：

W(ω)=Σn=0M-1h(n)e-jωn]]>

式中，W(ω)为滤波器的频谱函数，取值为复数，h(n)为窗函数，M表示滤波器的阶数，取值为正整数。

3.根据权利要求1所述的基于窗函数设计的滤波器性能检测方法，其特征在于，确定所述频谱函数的实部和虚部，并根据所述实部和虚部获取滤波器的频谱主瓣宽度的步骤包括：

计算所述频谱函数的实部和虚部；

求解所述实部和虚部的第一个相同零点；

根据所述第一个相同零点确定滤波器的频谱主瓣宽度。

4.根据权利要求3所述的基于窗函数设计的滤波器性能检测方法，其特征在于，求解所述实部和虚部的第一个相同零点的步骤包括：

S201，获取滤波器的阶数M、搜索区间[0,π]、搜索间隔α以及误差系数ε，设置i=2；

S202，计算R{W(ω_i)}和R{W(ω_i+1)}；其中，R{W(ω_i)}为频谱函数的实部；

S203，若满足R{W(ω_i)}≤ε，则ω_R=ω_i，转到步骤S206；否则转步骤S204；

S204，若满足R{W(ω_i+1)}≤ε，则ω_R=ω_i+1，转到步骤S206；否则转步骤S205；

S205，若满足R{W(ω_i)}×R{W(ω_i+1)}<0，则转到步骤S206；否则i=i+1，转到步骤S202；

S206，计算I{W(ω_R)}，其中I{W(ω_R)}为频谱函数的虚部；

S207，判断是否满足I{W(ω_R)}≤ε，若是，执行步骤S208，否则，令i=i+1，转到步骤S202；

S208，确定实部和虚部的第一个相同零点。