[发明专利]快闪存储器装置及其数据读取方法有效

专利信息
申请号: 201410045061.X 申请日: 2014-02-07
公开(公告)号: CN104835528B 公开(公告)日: 2018-09-11
发明(设计)人: 叶润林;张尚文 申请(专利权)人: 华邦电子股份有限公司
主分类号: G11C16/26 分类号: G11C16/26
代理公司: 隆天知识产权代理有限公司 72003 代理人: 赵根喜;李昕巍
地址: 中国台湾台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 数据读取 放电晶体管 快闪存储器 源极 存储器单元 预充电电压 放电能力 升压电压
【说明书】:

发明公开了一种快闪存储器装置及其数据读取方法。在存储器单元进行数据读取时提供电压值高于预充电电压的升压电压至源极放电晶体管,以提高源极放电晶体管的放电能力。

技术领域

本发明涉及一种存储器装置,且特别涉及一种快闪存储器装置及其数据读取方法。

背景技术

典型的快闪(FLASH)存储器阵列中,记忆胞安排于由列与行所形成的长方形阵列中,并于列与行所形成的交叉点配置记忆胞晶体管。每一晶体管的漏极连接到对应的位元线,源极经由阵列源极线连接至阵列源极放电晶体管的漏极,而栅极则连接至字元线(wordline)。

快闪存储器容许以区块(bulk)、存储区(sector)或存储页(page)方式来程序化(program)、读取或擦除,一般来说,记忆胞具有金属氧化物半导体(MOS)结构,当记忆胞的浮置栅极中没有储存电荷时,也就是当写入数据为“1”时,在读取时,记忆胞为正常开(normally on)。当浮置栅极中有储存电子时,也就是当写入数据为“0”时,在读取时,记忆胞为正常关(normally off)。

在对快闪存储器进行读取时,对所选择记忆胞的控制栅极施加读取电位,并施加低电位在选择晶体管的漏极位元线上,通过记忆胞的临界值来判断此记忆胞是否导通至源极线上,以感测位元线的电位,并据以判断记忆胞所储存的数据。其中当记忆胞所储存的数据为1时,对应的位元线上将出现电流。一般来说,快闪存储器阵列的页群组(pagegroup)中多个记忆胞的源极会共同连接至一源极放电晶体管,而读取记忆胞所产生的电流将会经由此源极放电晶体管流向接地。当页群组中的记忆胞所储存的数据大多数为1时,将可能使页群组所流出的电流大小超出源极放电晶体管所能达到的最大放电电流,如此将使页群组中的记忆胞所流出的电流大小受到限制,进而影响到解读记忆胞所储存的数据内容的正确性以及数据读取的速度。

发明内容

本发明提供一种快闪存储器装置及其数据读取方法,可提高读取快闪存储器装置所储存的数据内容的正确性以及数据读取的速度。

本发明的快闪存储器装置,包括存储器单元、源极放电晶体管、预充电单元、升压单元以及控制单元。其中存储器单元包括多个记忆胞。源极放电晶体管的漏极耦接上述多个记忆胞的源极,源极放电晶体管的源极耦接至接地。预充电单元耦接源极放电晶体管的栅极,受控于预充电控制信号而于存储器单元进行数据读取时停止提供预充电电压至源极放电晶体管的栅极。升压单元耦接源极放电晶体管的栅极,于预充电单元停止提供预充电电压后,依据升压控制信号提供升压电压至源极放电晶体管的栅极,其中升压电压的电压值大于预充电电压的电压值。控制单元耦接预充电单元与升压单元,依据读取指令发出预充电控制信号与升压控制信号。

在本发明的一实施例中,上述的升压单元包括电容单元以及切换单元。其中电容单元的一端耦接源极放电晶体管的栅极。切换单元耦接操作电压、控制单元、接地与电容单元的另一端,依据升压控制信号而于存储器单元进行数据读取时将操作电压连接至电容单元的另一端,以使电容单元提供升压电压至源极放电晶体管的栅极,并于存储器单元完成数据读取后,将接地连接至电容单元的另一端。

在本发明的一实施例中,上述的切换单元为开关元件。

在本发明的一实施例中,上述的切换单元包括反向器、P型晶体管以及N型晶体管。其中反向器接收升压控制信号。P型晶体管与N型晶体管串接于操作电压与接地之间,N型晶体管以及P型晶体管的栅极耦接反向器的输出端。

在本发明的一实施例中,上述的存储器单元为并列式快闪存储器。

本发明的快闪存储器装置的数据读取方法,其中快闪存储器装置包括多个记忆胞以及源极放电晶体管,源极放电晶体管耦接于上述多个记忆胞的源极与接地之间,数据读取方法包括下列步骤。检测是否接收到读取指令。若接收到读取指令,停止提供预充电电压至源极放电晶体管的栅极。提供升压电压至源极放电晶体管的栅极,其中升压电压的电压值大于预充电电压的电压值。

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