[发明专利]光学断层成像装置及其控制方法

说明书

技术领域

本发明涉及光学断层成像装置及其控制方法。例如，本发明涉及用在眼科诊疗中的光学断层成像装置及其控制方法。

背景技术

利用光来形成待测物体的表面和/或内部的图像的光学图像测量技术近年来吸引了注意。与传统的X射线计算机断层成像术（computed tomography，CT）不同，光学图像测量技术对人体不是侵入性的。特别是在医疗领域中期待光学图像测量技术的应用的发展。尤其在眼科领域中已取得了显著进展。

在用于光学图像测量的典型技术中有一种被称为光学相干断层成像术（optical coherence tomography，OCT）的方法。此方法使用干涉计，这使得能够进行高分辨率、高灵敏度的测量。利用宽带弱光作为照明光提供了对被检体的安全性高的优点。

基于利用光干涉的OCT的光学断层成像装置（以下称为OCT装置）能够以高分辨率获得样本的断层图像。特别地，OCT装置涉及用于形成被检体眼睛的前眼部的图像的前眼部光学断层成像装置。

OCT装置能够以低相干光作为测量光来照射样本，并且通过利用干涉系统或干涉光学系统以高灵敏度测量来自样本的后方散射光（backscattered light）。OCT装置能够以测量光扫描样本以获得高分辨率断层图像。从而可获得被检体眼睛的前眼部的角膜部位的断层图像并将其用于眼科诊断。

日本专利申请特开No.2011-147612论述了一种既可捕捉前眼部的断层图像又可捕捉眼底的断层图像的光学断层成像装置。根据成像模式是前眼部成像模式还是眼底成像模式，光学断层成像装置将其干涉光学系统中包括的参照镜移动到与成像模式相对应的位置。

发明内容

根据本发明的一方面，一种光学断层成像装置，该光学断层成像装置被配置为基于来自用测量光照射的物体的返回光和与该测量光相对应的参照光组合成的光来获得该物体的断层图像，该光学断层成像装置包括：测量光光路长度改变单元，被配置为改变测量光的光路长度；指令单元，被配置为发出关于断层图像的成像范围的大小的指令；以及控制单元，被配置为控制测量光光路长度改变单元以在指令单元的指令之后相对于物体在深度方向上执行对准，并且将测量光的光路长度改变与发出指令所关于的大小的改变相对应的距离。

通过以下参考附图对示范性实施例的描述，本发明的进一步特征将变得清楚。

附图说明

图1是图示出根据第一示范性实施例的整个光学断层成像装置的示图。

图2是图示出根据第一示范性实施例的测量光学系统的配置的示图。

图3是图示出根据第一示范性实施例的在x方向上扫描被检体眼睛的前眼部的状态的说明图。

图4A、4B和4C是图示出根据第一示范性实施例的前眼部的成像位置中的扫描范围和根据该扫描范围获得的图像的说明图。

图5是图示出根据第一示范性实施例的测量操作画面的示例的示图。

图6是图示出根据第一示范性实施例的测量操作画面的另一示例的示图。

图7是图示出根据第一示范性实施例的测量流程的流程图。

图8A、8B、8C、8D、8E和8F是图示出根据第一实施例的前眼部的断层图像的显示示例和经校正的图像的显示示例的示图。

图9是图示出根据第二示范性实施例的整个光学断层成像装置的示图。

图10A和10B是图示出根据第四示范性实施例的多面镜的示图。

图11是图示出根据第五示范性实施例的参数的示图。

具体实施方式

考虑改变诸如被检体眼睛之类的物体的断层图像的成像范围的大小的情况。可能的方法可包括通过在光轴方向上相对于物体移动装置主体来改变测量光的光路长度。利用这种方法，操作者不能容易地知道要将测量光的光路长度改变多少来获得具有操作者期望的大小的断层图像。

鉴于上述问题，示范性实施例的一方面涉及提供一种光学断层成像装置及其控制方法，由此操作者可通过指定物体的断层图像的成像范围的大小来容易地获得具有期望大小的断层图像。

根据本示范性实施例，如果发出与断层图像的成像范围的大小有关的指令，则可根据该指令来改变测量光的光路长度。操作者从而可通过指定物体的断层图像的成像范围的大小来获得具有期望大小的断层图像。

下面将描述根据第一示范性实施例的光学断层成像装置（OCT装置）。

[装置的一般配置]

将参考图1来描述根据本示范性实施例的光学断层成像装置的一般配置。