[发明专利]一种提高钢铁中碳元素含量测量精度的方法有效
| 申请号: | 201410035481.X | 申请日: | 2014-01-24 |
| 公开(公告)号: | CN103792214A | 公开(公告)日: | 2014-05-14 |
| 发明(设计)人: | 袁廷璧;侯宗余;刘彬;李佃;李永生;刘建民 | 申请(专利权)人: | 国电科学技术研究院 |
| 主分类号: | G01N21/63 | 分类号: | G01N21/63 |
| 代理公司: | 北京方圆嘉禾知识产权代理有限公司 11385 | 代理人: | 董芙蓉 |
| 地址: | 210000 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 提高 钢铁 元素 含量 测量 精度 方法 | ||
1.一种提高钢铁中碳元素含量测量精度的方法,其特征在于该方法包括如下步骤:
1)选定碳含量已知的n种钢铁样品作为一组定标样品,以Z表示碳含量,第i种定标样品中碳的含量记为Zi,i=1,2,…,n;
2)对于步骤1)中的第i种定标样品,i=1,2,…,n,利用激光诱导击穿光谱系统进行检测:以紫外波段的脉冲激光器(1)为激发光源,从脉冲激光器出射的激光经过聚焦透镜(2)聚焦后作用于定标样品(3)表面,在聚焦点产生等离子体,等离子体产生的辐射光信号通过采集透镜(4)进入光纤(5),并经过光谱仪(6)处理后转化成电信号被计算机(7)采集,得到第i种定标样品的特征光谱;n种定标样品共得到n幅特征光谱;
3)以X表示碳原子谱线的强度,以Y表示碳分子谱线带的强度;求出第i种定标样品的特征光谱中碳原子谱线的强度Xi和碳分子谱线带的强度Yi,i=1,2,…,n;n幅特征光谱对应的碳原子谱线的强度分别记为X1、X2、…、Xn,n幅LIBS光谱对应的碳分子谱线带的强度分别记为Y1、Y2、…、Yn;
4)以Z1、Z2、…、Zn为因变量,以X1、X2、…、Xn和Y1、Y2、…、Yn为自变量,用拟合的方法建立碳含量Z关于碳原子谱线的强度X以及碳分子谱线带的强度Y之间的函数关系f;根据此函数关系求出第i种定标样品碳含量的拟合值Zi′:
Zi′=f(Xi,Yi); (1)
其中f表示函数关系,i=1,2,…,n;
5)求出Zi′与钢铁样品中已知碳含量Zi之间的残差Wi,n种定标样品的n个残差组成残差矩阵F;F的结构如下:
F=[W1 W2 … Wn]′ (2)
6)建立谱线强度矩阵E,E的结构如下:
其中,Iij表示第i种定标样品的特征光谱中波长j处的特征谱线对应的谱线强度,i=1,2,…,n;j=1,2,…,k;k为特征光谱中除碳原子谱线和碳分子谱线外所有特征谱线的总数目;
7)以矩阵F为因变量,矩阵E为自变量,实施偏最小二乘回归,具体过程为:从自变量矩阵E中提取主成分,主成分既能代表数据变异信息,同时与残差矩阵F的相关程度达到最大;根据交叉有效性,共提取g个主成分t1,t2...,tg;实施F在t1,t2...,tg上的回归,得:
其中,r1,r2,...,rg为回归系数;F为残差矩阵F的估计值;
根据偏最小二乘法的原理,t1,t2...,tg均是矩阵E中Iij的线性组合,因此对公式(4)变形,得到矩阵中的每一个元素
其中i=1,2,…,n,cj为对公式(4)变形后得到的系数;
8)建立定标模型:根据步骤4)中的函数关系及步骤7)中的偏最小二乘回归,得到定标模型如下:
9)对于碳含量未知的待测钢铁样品,利用激光诱导击穿光谱系统对其进行检测,得到待测钢铁样品的特征光谱,并从特征光谱中求出碳原子谱线的强度X0、碳分子谱线带的强度Y0以及波长j处的特征谱线对应的谱线强度I0j,j=1,2,…,k;代入定标模型(5)式进行计算;即可得到的待测钢铁样品中的碳含量Z0。
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