[发明专利]CT系统金属伪影校正方法有效
| 申请号: | 201410007036.2 | 申请日: | 2014-01-08 |
| 公开(公告)号: | CN103745440B | 公开(公告)日: | 2017-02-08 |
| 发明(设计)人: | 周志勇;戴亚康;郑健;李铭;杨晓冬 | 申请(专利权)人: | 中国科学院苏州生物医学工程技术研究所 |
| 主分类号: | G06T5/00 | 分类号: | G06T5/00 |
| 代理公司: | 深圳市科进知识产权代理事务所(普通合伙)44316 | 代理人: | 宋鹰武,沈祖锋 |
| 地址: | 215163 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | ct 系统 金属 校正 方法 | ||
1.一种CT系统金属伪影校正方法,其特征在于,包括下述步骤:
初始化参数,其中,所述参数包括物体的衰减系数f、最大投影角度Θ、重建图像大小Nx×Ny×Nz、扫描物体大小为Lx×Ly×Lz、CT探测器数量D及单个探测单元的大小Ds;
创建所述CT系统的系统矩阵θ为投影角度,i是该投影角度下第i条X射线;
基于所述系统矩阵计算CT图像重建过程中的物体衰减系数f;
优化所述物体衰减系数f。
2.根据权利要求1所述的CT系统金属伪影校正方法,其特征在于,其中,初始化参数包括下述步骤:
根据投影角度,确定所述最大投影角度Θ和投影角度数量n;
根据所述探测器单元数量D及单个探测单元的大小Ds确定需要计算的X射线条数;
根据所述重建图像大小Nx×Ny×Nz和扫描物体大小为Lx×Ly×Lz,确定网格的大小和数量;
初始化重建前的物体衰减系数。
3.根据权利要求1所述的CT系统金属伪影校正方法,其特征在于,其中,创建所述CT系统的系统矩阵包括下述步骤:
输入所述初始化参数;
确定投影角度θt;
将需要计算衰减系数的射线记作lti(1≤t≤n,1≤i≤D),其中,t是投影角度的序号,n是投影角度数量,i是该投影角度下第i条X射线,D是探测器单元数量;
计算X射线lti经过的网格以及所述lti与所述网格的交线长度,得到所述CT系统的系统矩阵
所述网格的网格序号保存在内存Mij中,所述交线长度保存在内存M'ij中,所述Mij和M'ij中的数据一一对应;
若t=n,完成所述CT系统的系统矩阵的创建;若t≠n,则在投影角度θt+1下重复执行上述步骤。
4.根据权利要求1所述的CT系统金属伪影校正方法,其特征在于,其中,基于所述系统矩阵计算CT图像重建过程中的物体衰减系数f,包括下述步骤:
在当前投影角度θt时,读取探测器i探测到的X射线lti透射后的能量;
根据通过探测器探测到的能量计算X射线经过的网格的衰减系数;
在所述X射线lti经过的路径上,计算lti穿过所述网格gi,j后的能量,并根据所述能量计算gi,j的衰减系数,其中,计算的公式为其中,Ej+1是射线穿过网格j+1透射后的能量,E0是射线的初始能量,fj’是物体网格gi,j的衰减系数,η是变换系数;
所述X射线lti穿所述网格gi,j后,计算透射后X射线的能量;
将穿过网格gi,j的X射线能量作为下一个网格gi,j+1的入射X射线能量,计算所述X射线穿过gi,j+1后的能量和gi,j+1的衰减系数;
重复上述步骤,直至X射线完全穿透物体,计算最终透射X射线的能量和X射线路径上最后一个网格的衰减系数。
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