[发明专利]用于通过X辐射对多个基本相同组件的自动化测试和/或测量的系统和方法

权利要求书

1.一种用于通过X辐射对多个基本相同组件(12)的自动化串行测试和/或测量的系统(10)，包括具有支承(17)、经安装以便在所述支承(17)上连续可旋转的转子(18)和设置在所述转子(18)上的X射线装置(24，25)的测试装置(11)、包围所述测试装置(11)的保护壳体(15)、用于在X射线测试期间装卸组件(12)的装卸装置(60)和配置用于自动控制所述系统(10)以及通过计算机断层扫描来评估所述X射线信号的控制/评估单元(14)，其特征在于所述装卸装置(60)配置用于在装载区(61)与测试区(78)之间周期地往复，并且包括垂直定向端面元件(64)，从而提供接纳和/或保持部件，所述组件(12)在其上能够设置在所述端面的侧面上。

2.如权利要求1所述的系统，其特征在于，所述装卸装置(60)安装在与所述装载区(61)相反的所述测试装置(11)的侧面或者测试平面E上。

3.如权利要求1或2所述的系统，其特征在于，所述端面元件(64)是板状的。

4.如权利要求5所述的系统，其特征在于，所述接纳/保持部件包括用于所述组件的支承构件(27)。

5.如权利要求5或6所述的系统，其特征在于，所述接纳/保持部件包括用于抓取所述组件的夹持器和/或抓取工具和/或夹子。

6.如权利要求5至7中的任一项所述的系统，其特征在于，所述接纳/保持部件相对于所述端面元件(64)是高度可调的。

7.如以上权利要求中的任一项所述的系统，包括贯穿所述转子(18)延伸的管(43)，其特征在于，所述端面元件基本上延伸在所述管(43)的整个截面之上。

8.如以上权利要求中的任一项所述的系统，其特征在于，所述端面元件(64)在其外圆周上包括具体为环状的密封构件(80)。

9.如以上权利要求中的任一项所述的系统，其特征在于，所述装卸装置(60)安装在与所述装载区(61)相反的所述测试装置(11)的所述侧面或者测试平面E上。

10.如以上权利要求中的任一项所述的系统，其特征在于，所述装卸装置(60)包括用于在所述装载区(61)与所述测试区(78)之间传送所述组件的第一可移动段(70)以及用于在所述测试期间组件(12)通过所述测试区(78)的轴向移位的第二单独可移动段(71)。

11.如权利要求12所述的系统，其特征在于，所述移位单元(60)的长度能够通过所述可移位段(70，71)按照伸缩的方式来改变。

12.如以上权利要求中的任一项所述的系统，其中，所述控制/评估单元(14)配置用于自动检测材料缺陷、例如气孔、多孔性以及所述组件(12)的基本上同质材料中的较高密度的材料的包含。

13.一种用于操作如权利要求1所述的系统的方法，其特征在于，待测试组件(12)在装载区(61)中传递给所述装卸装置，其包括提供所述组件(12)的接纳和/或保持部件的垂直定向端面元件(64)，所述装卸装置沿馈送方向从所述装载区(61)以线性的方式移位，直到所述组件(12)已经到达所述测试区(78)，所述装卸装置然后以线性的方式移位，以便为了X射线测试的目的而将所述组件(12)移过所述测试区(78)，并且然后所述装卸装置沿与所述馈送方向相反的可移动方向从所述测试区(78)以线性的方式移位，直到所述组件(12)已经到达所述装载区(61)以进行卸载。