[发明专利]固态图像拾取元件和电子设备有效
| 申请号: | 201380066092.7 | 申请日: | 2013-12-17 |
| 公开(公告)号: | CN104854700B | 公开(公告)日: | 2018-06-12 |
| 发明(设计)人: | 户田淳 | 申请(专利权)人: | 索尼公司 |
| 主分类号: | H01L27/146 | 分类号: | H01L27/146;H01L31/032;H01L31/072 |
| 代理公司: | 北京信慧永光知识产权代理有限责任公司 11290 | 代理人: | 梁兴龙;曹正建 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 固态成像元件 光电转换部 电子设备 透明电极 光入射 基板 固态图像拾取元件 电子阻挡层 黄铜矿 制造 | ||
1.一种固态成像元件,包括:
基板;
在所述基板的光入射侧上形成的包含黄铜矿材料的光电转换部;
在所述光电转换部的光入射侧的透明电极;和
在所述光电转换部和所述透明电极之间形成的电子阻挡层,
其中,所述电子阻挡层包含至少两种材料,并且其中所述至少两种材料层叠。
2.如权利要求1所述的固态成像元件,其中所述透明电极是ITO并且所述黄铜矿材料是CuInGaS。
3.如权利要求1所述的固态成像元件,其中所述电子阻挡层的厚度为10nm。
4.如权利要求1所述的固态成像元件,其中所述电子阻挡层的势垒为0.6~1.3eV。
5.如权利要求1所述的固态成像元件,其中所述电子阻挡层的势垒为1.0~1.3eV。
6.如权利要求1所述的固态成像元件,其中所述电子阻挡层包含NiO、Cu2O和ZnRh2O4中的至少一种。
7.如权利要求1所述的固态成像元件,其中所述电子阻挡层的厚度为4~10nm。
8.如权利要求1所述的固态成像元件,其中所述电子阻挡层的厚度为6~10nm。
9.如权利要求1所述的固态成像元件,其中所述透明电极是ITO,所述电子阻挡层包含Cu2O,所述电子阻挡层的势垒为1.3eV,以及所述电子阻挡层的厚度为6~10nm。
10.如权利要求1所述的固态成像元件,其中所述至少两种材料是Cu2O在ZnRh2O4上。
11.一种固态成像元件的制造方法,包括:
形成包含黄铜矿材料的光电转换部;
在所述光电转换部的光入射侧形成透明电极;和
在所述光电转换部和所述透明电极之间形成电子阻挡层,
其中,所述电子阻挡层包含至少两种材料,并且其中所述至少两种材料层叠。
12.如权利要求11所述的方法,其中所述透明电极是ITO并且所述黄铜矿材料是CuInGaS。
13.如权利要求11所述的方法,其中所述电子阻挡层的厚度为10nm。
14.如权利要求11所述的方法,其中所述电子阻挡层的势垒为0.6~1.3eV。
15.如权利要求11所述的方法,其中所述电子阻挡层的势垒为1.0~1.3eV。
16.如权利要求11所述的方法,其中所述电子阻挡层包含NiO、Cu2O和ZnRh2O4中的至少一种。
17.如权利要求11所述的方法,其中所述电子阻挡层包含NiO并且所述电子阻挡层的厚度为4~10nm。
18.一种电子设备,包括:
固态成像元件,包括:
基板;
在所述基板的光入射侧上形成的包含黄铜矿材料的光电转换部;
在所述光电转换部的光入射侧的透明电极;和
在所述光电转换部和所述透明电极之间形成的电子阻挡层,
其中,所述电子阻挡层包含至少两种材料,并且其中所述至少两种材料层叠。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的





