[发明专利]漂移计算装置以及具有该漂移计算装置的光检测装置

说明书

技术领域

本发明涉及基于以规定周期输入的测定强度计算漂移的漂移计算装置以及具有该漂移计算装置的光检测装置。

背景技术

在例如色谱仪那样的分析装置中，具有包含多个受光元件的光检测部，基于这些受光元件中的测定光的受光量，测定强度以规定周期被输入到控制装置中。控制装置例如由计算机构成，取得以规定周期输入的测定强度和测定时间的关系作为测定数据，能够对该测定数据进行处理。

在这种分析装置中，分析开始后，由于到检测灵敏度稳定为止需要花费时间等原因，有时测定强度会随着时间推移产生变化。因此，在分析装置中，作为对上述测定数据进行的处理的一例，存在用于进行以下处理的构成：根据通过背景测定得到的测定数据计算出测定强度的随着时间推移的变化率(漂移)，基于计算出的漂移修正测定数据(例如，参照下述专利文献1)。

图3是用于对现有的计算漂移时的形态进行说明的图。在该图3中，作为测定强度的一例的吸光度与测定时间的关系被作为测定数据仅示出了一部分。

在图3的(a)的例子中，使用最小二乘法对测定数据求得近似的直线L1，由此将该直线L1的斜率作为漂移D1计算出来。另一方面，在图3的(b)的例子中，从测定数据中选择任意的两点P1、P2，求得连结上述两点P1、P2的直线L2，由此将该直线L2的斜率作为漂移D2计算出来。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开2000-136999号公报

发明内容

发明要解决的课题

在以图3的(a)中所例示的那样的形态计算漂移D1的情况下，则使用一定期间内以规定周期输入的全部测定强度计算出漂移D1。为了高精度地计算出漂移D1，需要将上述一定时间设定成比较长的时间，通常，设定为60～90分钟左右。

例如，在使用以100Hz的频率在60分钟内得到的测定强度计算漂移D1的情况下，则对各波长的每一个使用了360000次(100×60×60＝360000)的测定强度。因此，在1次的测定强度的数据量为8bytes的情况下，对各波长的每一个就需要2.88Mbytes的缓存容量。假设，在受光元件的数量为1024个的情况下，由于要使用对应于每个受光元件的波长的测定强度，因此总体需要高达2949.12Mbytes(2.88×1024)的缓存容量。

因此，在缓存容量受到限制的装置中，存在无法确保充分的缓存容量的问题。特别是，不是将测定数据从光检测部输入到控制装置中，并在该控制装置中计算漂移D1那样的构成，而是例如在光检测部侧(分析装置侧)计算漂移D1那样的构成的情况下，难以将大容量的缓存设置在光检测部侧，因此上述那样的问题就变得显著。

又，在以图3的(a)中例示的那样的形态计算漂移D1的情况下，在对各波长的每一个都得到全部的测定强度(在上述的例子中为360000次)之前，无法用最小二乘法对测定数据求得近似直线L1。因此，恐怕会产生背景测定结束后处理负荷集中，产生处理等待时间等问题。

对此，在以图3的(b)所例示的那样的形态计算漂移D2的情况下，不会产生上述那样的问题。即，由于能够对各波长的每一个使用两次测定强度来计算漂移D2，因此在一次的测定强度的数据量为8bytes的情况下，对各波长的每一个仅确保16bytes的缓存容量即可。假设，在受光元件的数量为1024个的情况下，虽然对于每个受光元件，对应的波长的测定强度需要各两次，但是总体只要16384bytes这样较小的缓存容量就足够了。

然而，在图3的(b)所例示的那样的形态中，由于对各波长的每一个仅使用两次测定强度，因此存在计算出的漂移D2难以被认为是高精度的值这样的问题。特别是，根据从测定数据选择两点P1、P2作为两次测定强度时的形态的不同，计算出的漂移D2中会产生很大误差，恐怕难以高精度地计算漂移D2。

本发明是鉴于上述实情而做出的，其目的在于，提供一种能够使用更小容量的缓存来高精度地计算漂移的漂移计算装置以及具有该漂移计算装置的光检测装置。又，本发明的目的在于，提供一种能够在计算漂移时防止处理负荷的集中的漂移计算装置以及具有该漂移计算装置的光检测装置。

用于解决课题的手段