[发明专利]漂移计算装置以及具有该漂移计算装置的光检测装置有效
| 申请号： | 201380064345.7 | 申请日： | 2013-11-19 |
| 公开（公告）号： | CN104838262A | 公开（公告）日： | 2015-08-12 |
| 发明（设计）人： | 横井祐介 | 申请（专利权）人： | 株式会社岛津制作所 |
| 主分类号： | G01N30/86 | 分类号： | G01N30/86;G01N21/27;G01N30/74 |
| 代理公司： | 上海市华诚律师事务所 31210 | 代理人： | 肖华 |
| 地址： | 日本京都府京都*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 漂移 计算 装置 以及 具有 检测 | ||
【权利要求书】：
1.一种基于以规定周期输入的测定强度来计算漂移的漂移计算装置，其特征在于，具有：
多个总和用缓存，所述多个总和用缓存被分别分配给多个总和函数，所述多个总和函数对于用于使用最小二乘法计算漂移的计算式中包含的系数，以构成该系数的测定强度以及测定时间中的至少一方为变量；
数据更新部，每当测定强度以规定周期被输入时，所述数据更新部就基于当时的测定强度以及测定时间中的至少一方更新所述多个总和用缓存的数据；以及
漂移计算部，所述漂移计算部通过将由所述数据更新部更新后的所述多个总和用缓存的数据代入到所述计算式中，从而计算出漂移。
2.如权利要求1所述的漂移计算装置，其特征在于，
还具有被分配给所述多个总和函数能共同使用的变量的共用缓存，
每当测定强度以规定周期被输入时，所述数据更新部就更新所述共用缓存的数据，
所述漂移计算部通过将由所述数据更新部更新后的所述多个总和用缓存以及所述共用缓存的数据代入所述计算式中，从而计算出漂移。
3.一种光检测装置，其特征在于，具有：
如权利要求1或2所述的漂移计算装置；以及
光检测部，所述光检测部以规定周期将基于测定光的受光量的测定强度输入到所述漂移计算装置中。
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