[发明专利]用于确定半桥电路的故障状态的方法和电路单元

说明书

本申请的主题涉及一种用于确定具有至少一个第一半导体开关（HS1）和第二半导体开关（HS2）的半桥电路（HBS）的故障状态的方法，其中第一半导体开关（HS1）和第二半导体开关（HS2）以串联电路彼此连接并且可分别借助于控制信号控制，并且其中第一半导体开关（HS1）和第二半导体开关（HS2）能够分别采用断开的和闭合的开关状态。确定第一半导体开关（HS1）的实际开关状态和理论开关状态。此外确定第二半导体开关（HS2）的实际开关状态和理论开关状态。此外，如果第一半导体开关（HS1）的实际开关状态不同于第一半导体开关（HS1）的理论开关状态并且此外第二半导体开关（HS2）的实际开关状态不同于第二半导体开关（HS2）的理论开关状态，那么识别出半桥电路（HBS）中的桥短路。

技术领域

本发明涉及一种用于确定具有至少一个第一半导体开关和第二半导体开关的半桥电路的故障状态的方法和电路单元。

背景技术

从DE 43 01 605 C1中已知，用于监控功率电子电路中的可控的功率半导体器件的接通和关断的方法和装置。用于功率半导体器件的控制信号被以电退耦的方式输送给栅电极。在用于接通功率半导体器件的控制信号中，由在切换功率半导体器件时加载栅电极的信号的电平变换和输出电极上的电平变换形成计数信号。将计数信号相加并且与跟功率半导体器件的无缺点的工作方式相关联的、预设的计数值进行比较。在计数信号的总和和预设的计数值之间存在差异的情况下，报告故障。

发明内容

本发明的任务是，说明一种用于确定具有至少一个第一半导体开关和第二半导体开关的半桥电路的故障状态的方法和电路单元，所述方法和所述电路单元能够为运行半桥电路实现提高的运行安全性。

所述任务借助独立权利要求的主题来解决。有利的改进方案由从属权利要求得出。

用于确定具有至少一个第一半导体开关和第二半导体开关的半桥电路的故障状态的方法根据本发明的一个方面具有下述步骤，其中第一半导体开关和第二半导体开关以串联电路相互连接并且分别借助于控制信号、尤其是脉宽调制的控制信号可控，并且其中第一半导体开关和第二半导体开关能够分别采用断开的和闭合的开关状态。确定第一半导体开关的实际开关状态和理论开关状态。此外，确定第二半导体开关的实际开关状态和理论开关状态。此外，如果第一半导体开关的实际开关状态不同于第一半导体开关的理论开关状态并且此外第二半导体开关的实际开关状态不同于第二半导体开关的理论开关状态，那么识别出半桥电路中的桥短路。

在此并且在下文中，将桥短路理解成经过第一和第二半导体开关的负载段中的电短路。此外，将闭合的开关状态理解成相应的半导体开关的下述状态，其中导电通道进而经由半导体开关的电连接被构造。相应地，将断开的开关状态理解成相应的半导体开关的下述状态，其中导电通道进而经由半导体开关的电连接没有被构造。

根据所述实施方式的方法能够为运行半桥电路实现提高的运行安全性。这尤其通过下述方式进行：如果第一半导体开关的实际开关状态不同于第一半导体开关的理论开关状态并且此外第二半导体开关的实际开关状态不同于第二半导体开关的理论开关状态，那么识别出半桥电路中的桥短路。因此，如果确定第一半导体开关的暂时的实际开关状态不同于第一半导体开关的暂时的理论开关状态并且此外第二半导体开关的暂时的实际开关状态不同于第二半导体开关的暂时的理论开关状态，那么识别出半桥电路中的桥短路。因此，半桥电路的两个半导体开关没有采用相应的理论开关状态。在此，基于下述考虑，仅在桥短路的情况下，不仅第一半导体开关、而且第二半导体开关没有采用相应的理论开关状态，如在下文中详细阐述的那样。因此，借助于所述方法，在这种情况下能够以可靠的方式推断出存在桥短路。此外，由此能够满足尤其在车辆应用中用于安全重要的电系统或电子系统的安全要求，所述安全要求需要区分桥短路与其他的仅分别涉及半导体开关中的一个半导体开关的故障状态，如同样在下文中详细阐述的那样。