[发明专利]用于确定半桥电路的故障状态的方法和电路单元

权利要求书

1.用于确定具有第一半导体开关（HS1）和第二半导体开关（HS2）的半桥电路（HBS）的故障状态的方法，其中所述第一半导体开关（HS1）和所述第二半导体开关（HS2）以串联电路彼此连接并且分别借助于控制信号可控，并且其中所述第一半导体开关（HS1）和所述第二半导体开关（HS2）能够分别采用断开的和闭合的开关状态，并且其中所述方法具有下述方法步骤：

- 借助于第一确定单元（E1）确定所述第一半导体开关（HS1）的实际开关状态，

- 借助于第二确定单元（E2）确定所述第二半导体开关（HS2）的实际开关状态，

- 借助于中央控制单元（ZSE）确定所述第一半导体开关（HS1）的理论开关状态和所述第二半导体开关（HS2）的理论开关状态，

- 如果所述第一半导体开关（HS1）的实际开关状态不同于所述第一半导体开关（HS1）的理论开关状态并且此外所述第二半导体开关（HS2）的实际开关状态不同于所述第二半导体开关（HS2）的理论开关状态，那么借助于所述中央控制单元（ZSE）识别出所述半桥电路（HBS）中的桥短路。

2.根据权利要求1所述的方法，其中所述第一和第二半导体开关（HS1，HS2）中的一个半导体开关的理论开关状态是闭合的并且其中所述第一和第二半导体开关（HS1，HS2）中的另一个半导体开关的理论开关状态是断开的，并且其中如果在理论开关状态下闭合的半导体开关的实际开关状态是断开的并且此外在理论开关状态下断开的半导体开关的实际开关状态是闭合的，那么识别出所述半桥电路中的桥短路。

3.根据权利要求1或2所述的方法，其中此外确定所识别的桥短路的数量，并且其中如果所识别的桥短路的所确定的数量超过预设的阈值，那么将所述第一半导体开关（HS1）和所述第二半导体开关（HS2）切换到预设的运行状态中。

4.根据权利要求1或2所述的方法，其中借助于第一电路装置（SA1）能够控制所述第一半导体开关（HS1），并且其中借助于第二电路装置（SA2）能够控制所述第二半导体开关（HS2），并且其中借助于所述第一电路装置（SA1）确定所述第一半导体开关（HS1）的实际开关状态并且借助于所述第二电路装置（SA2）确定所述第二半导体开关（HS2）的实际开关状态。

5.根据权利要求4所述的方法，其中将所述第一半导体开关（HS1）的实际开关状态借助于第一信号经由第一信号线路（S1）从所述第一电路装置（SA1）传递到所述半桥电路（HBS）的中央控制单元（ZSE）上，并且将所述第二半导体开关（HS2）的实际开关状态借助于第二信号经由第二信号线路（S2）从所述第二电路装置（SA2）传递到所述中央控制单元（ZSE）上，并且其中借助于所述中央控制单元（ZSE）基于所传递的第一和第二信号来识别桥短路。

6.根据权利要求5所述的方法，其中如果所述第一半导体开关（HS1）的实际开关状态不同于所述第一半导体开关（HS1）的理论开关状态并且此外所述第二半导体开关（HS2）的实际开关状态相应于所述第二半导体开关（HS2）的理论开关状态，那么借助于所述中央控制单元（ZSE）此外识别出所述第一半导体开关（HS1）的故障状态，并且其中如果所述第二半导体开关（HS2）的实际开关状态不同于所述第二半导体开关（HS2）的理论开关状态并且此外所述第一半导体开关（HS1）的实际开关状态相应于所述第一半导体开关（HS1）的理论开关状态，那么借助于所述中央控制单元（ZSE）此外识别出所述第二半导体开关（HS2）的故障状态。

7.根据权利要求5或6所述的方法，其中此外将所述中央控制单元（ZSE）的用于将所述第一和第二半导体开关（HS1，HS2）中的暂时断开的半导体开关切换成闭合的开关状态的切换要求发送给要切换的半导体开关的电路装置，并且其中在通过要切换的半导体开关的电路装置接收到所述切换要求之后，开始所述电路装置的时间测量单元的第一时间测量，并且其中在所述第一时间测量开始之后确定要切换的半导体开关的实际开关状态，并且其中将所确定的实际开关状态在所述第一时间测量开始之后的预先确定的持续时间之后经由要切换的半导体开关的信号线路传递给所述中央控制单元（ZSE）。