[发明专利]用于检查蛋的方法和装置

权利要求书

1.一种用于确定无损蛋的抗裂性的非破坏性方法，其中所述确定包括以下步骤a)和b)：

-a)确定在所述无损蛋的蛋壳中产生的张应力；

-b)确定所述蛋壳的弹性；

其中，步骤a)和步骤b)的结果被用于评价所述抗裂性，其中在所述无损蛋的蛋壳中产生的所述张应力与所述蛋壳的所述弹性的比被用作强度指数以评价无损蛋的抗裂性。

2.根据权利要求1所述的方法，包括：

-计算在所述无损蛋的蛋壳中产生的张应力；和

-确定所述蛋壳的弹性；

其中，张应力的计算结果和弹性的测量结果都被用于评价所述抗裂性。

3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于所述蛋壳的所述弹性的所述确定用机械手段执行。

4.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于所述蛋壳的所述弹性的所述确定用光学手段执行。

5.根据权利要求4所述的方法，其中使用光学手段包括利用散射技术和/或计算机视觉。

6.根据权利要求4所述的方法，其中所述使用光学手段包括表面布里渊散射。

7.根据权利要求4所述的方法，其特征在于所述弹性以非接触的方式确定。

8.根据权利要求2所述的方法，其中所述计算张应力包括测量所述蛋壳的外壳厚度和曲率。

9.根据权利要求1或2所述的方法，其中所述确定无损蛋的抗裂性包括裂缝存在确定和/或抗张强度和/或破裂的可能性。

10.根据权利要求1或2所述的方法，其中所述张应力的计算包括有限元分析，所述有限元分析包括几何表示和局部应力评估。

11.根据权利要求1或2所述的方法，其中所述确定无损蛋的抗裂性是在线执行的。

12.一种用于非破坏性地检查蛋的装置，用于预测无损蛋的抗裂性，所述装置包括：

-检测器，用于确定所述蛋壳的外壳厚度和/或曲率和/或所述蛋壳的弹性，其中所述检测器提供至少一蛋壳特性；

-中央处理单元，用于根据该蛋壳特性确定在蛋壳中产生的张应力，并确定所述蛋壳的所述弹性，其中所述张应力和弹性被用作无损蛋的抗裂性的预测值，其中在所述无损蛋的蛋壳中产生的所述张应力与所述蛋壳的所述弹性的比被确定，并被用作强度指数以评价无损蛋的抗裂性。

13.根据权利要求12所述的装置，其中所述检测器包括摄像机和/或光源和/或激光源和/或放射源。

14.一种用于对蛋进行分选的方法，其中根据权利要求1-11中的任一项所述的方法被用于在该分选期间确定所述无损蛋的抗裂性。

15.一种用于对蛋进行分选的装置，其中根据权利要求12-13中的任一项所述的装置被用于在该分选期间确定所述蛋的蛋壳的状态。

16.一种无损蛋的蛋壳中产生的张应力与所述无损蛋的蛋壳的弹性的比在根据前述权利要求1-11中的任一项所述的方法中的用途，所述比作为强度指数用来评价无损蛋的抗裂性。

17.一种用于确定在无损蛋的蛋壳中产生的张应力的非破坏性方法，在根据前述权利要求1-11中的任一项所述的方法中，其中所述张应力被用作所述蛋壳的状态的预测值。

18.根据权利要求17所述的方法，其中所述确定包括测量所述蛋壳的外壳厚度和曲率。

19.根据权利要求17或18中的任一项所述的方法，其中所述确定包括测量所述蛋壳的弹性。

20.根据前述权利要求17或18所述的方法，其特征在于所述蛋壳的所述弹性使用机械手段确定。

21.根据权利要求17或18所述的方法，其特征在于所述蛋壳的所述弹性使用光学手段确定。

22.根据权利要求21所述的方法，其中使用光学手段包括利用散射和/或反射技术和/或计算机视觉和/或热成像。

23.根据权利要求21所述的方法，其中所述光学手段包括表面布里渊散射或β射线测量或X射线测量。

24.根据权利要求20所述的方法，其特征在于所述弹性以非接触的方式确定。