[发明专利]确定工件的脏污

说明书

技术领域

本发明涉及一种用于确定工件的脏污的装置，具有用于在过滤膜上捕获在通过使工件经受液体作用而引入液体中的特征液体体积中吸收的污垢颗粒的设备，以及用于分析来自已经被过滤膜捕获的液体的污垢颗粒负载的系统。

本发明另外还涉及用于清洁工件的清洁设施，其包括用于确定工件的脏污的装置，且本发明还涉及在清洁设施中清洁工件的方法。

背景技术

污垢颗粒，特别是碎片材料、灰尘、铸造用砂、盐残余物或别的液体液滴，能够损害工业生产的产品(诸如，例如，用于内燃发动机的注射喷嘴或者在内燃发动机的曲轴箱中的油管道)的功能。工业生产过程中工件的清洁因此极其重要。因而，在工业生产设施中，必须定期系统地检查工件的清洁、干净或脏污。检查清洁或脏污在涉及对污垢敏感的工件的中间组装操作和最终组装操作之前特别重要。

WO 2012/045582 A1公开了一种用于确定工件的脏污的装置，其中工件能够利用流体进行冲洗以便从在该流体中的污垢颗粒负载推断工件的脏污程度。

发明内容

本发明的目的是提供一种用于确定工件的脏污的装置，其能够集成在用于工件的清洁设施中并提供允许清洁设施的监测和开环和/或闭环控制的测量变量。

该目的通过在开始提到的类型的用于确定工件的脏污的装置来实现，其中用于分析的系统具有连接到计算机单元的分析装置，其中平坦的过滤膜采取可位移的带的形式，该可位移的带可以借助于传输设备至少分段地相对于分析装置移动，并且其中连接到分析装置的计算机单元用于确定积聚在过滤膜的区段上的污垢颗粒的类型和/或数量和/或尺寸和/或尺寸分布的形式的污垢颗粒测量变量(M)。

为了分析在过滤膜上捕获的污垢颗粒，分析装置可包括扫描仪，该扫描仪优选地通过利用激光束扫描来记录带有沉积在过滤膜上的污垢颗粒的过滤膜的表面的轮廓。然后，连接到扫描仪的计算机单元可以用于从扫描仪的扫描信号推断积聚在过滤膜上的污垢颗粒的数量和/或尺寸和/或尺寸分布。

分析装置优选地具有用于光学记录带有布置在过滤膜上的污垢颗粒的过滤膜的区段的相机，计算机单元借助于图像处理来确定污垢颗粒测量变量(M)。

在该情形中，计算机单元被设计成用于将确定的污垢颗粒测量变量(M)与可预定的阈值(S)进行比较并且连接到可视化设备。如果积聚在过滤膜的区段上的污垢颗粒的确定的污垢颗粒测量变量(M)超出可预定的阈值(S)，这允许例如利用入射光照明和/或暗场照明记录的过滤膜的区段的图像在可视化设备上被显示给清洁设施的操作者。

该装置包括用于提供能够利用相机记录的过滤膜的区段的透射光照明的第一照明装置并且具有用于提供能够利用相机记录的过滤膜的区段的入射光照明和/或暗场照明的第二照明装置。然后，计算机单元可以例如从在入射光照明下利用相机记录的带形式的过滤膜的区段的至少一个图像计算积分亮度值(I)，以便然后将该值显示为积聚在区段上的污垢颗粒负载的辐射度。

相机优选地具有透镜，该透镜以合适的放大倍数记录过滤膜的区段。在该装置中的照明装置此处可以取决于分析的目的而配备有各种光源。

本发明的另一概念是计算机单元将确定的污垢颗粒测量变量(M)(诸如，例如污垢颗粒的数量和/或污垢颗粒的确定的尺寸和/或确定的尺寸分布)与参考(例如，阈值(S)或参考分布)进行比较。如果在带形式的过滤膜的区段上的污垢颗粒的确定的数量、污垢颗粒的确定的尺寸、污垢颗粒的确定的尺寸超出参考，例如阈值，或者确定的尺寸分布偏离参考分布，则计算机单元可以例如也在可视化设备上显示利用入射光照明和/或暗场照明记录的过滤膜的对应的区段的图像。

过滤膜的带可以是连续的过滤带。此处，如果装置包括用于在系统中分析之后移除积聚在连续的过滤带上的污垢颗粒负载的设备则是有利的。

为了连续地移动带形式的过滤膜，在装置中设置了传输设备。

例如，过滤膜可以由聚对苯二甲酸乙二酯(PET)的纺织织物制造。在该情形中，过滤膜尽可能地具有适合于期望的分析的过滤器精度，且优选地涂覆有另外的辅助物质，例如，石蕊，和/或利用一个或多个辅助物质处理。

用于分析由过滤膜捕获的污垢颗粒负载的系统还可以包括用于通过产生磁场来对齐布置在过滤膜上的可磁化的污垢颗粒的设备。

过滤膜至少分段地涂覆有一种物质，所述物质在其接触工件经受的液体时改变物理属性和/或化学属性，该属性取决于液体的化学组成，特别是液体的pH，这一事实意味着可以监测在装置中工件经受的液体的稠度。