[发明专利]确定用来确定偏斜误差信号(SES)以调节驱动单元中的磁头的SES偏移

说明书

技术领域

本发明涉及用于确定用来确定偏斜误差信号(SES)以调节驱动单元中的磁头的SES偏移的计算机程序产品、系统和方法。

背景技术

高级磁带卡盒保存数太字节(TB)的数据，其中一太字节等于1000吉字节并且一吉字节等于1000兆字节。实现这一容量所必需的记录密度需要读磁头元件几乎或者同样地具有写磁头元件的宽度。如果带介质由于热或密度而变得偏斜(skew)则在这样的高密度磁带卡盒中可以产生问题，这可以使读磁头在写验证期间偏离磁道而读取，并且这一对准不良(misregistration)导致写验证错误或者完全无法进行写验证。写验证过程实际上是对在实际写过程期间新近写入的数据的读取。

伺服图案可被用来确定对准不良的程度，或者读磁头偏离磁道而读取的程度。在磁头相对于磁带移动的方向未保持完全垂直时产生偏斜时可导致对准不良。对准不良在磁头单元上的写磁头和读磁头具有偏移时也可以发生。这些对准不良妨碍读磁头上的读元件读取由写磁头上的对应写元件写入的磁道上(on-track)数据。

在基于时间的伺服(TBS)系统中，记录的伺服图案由具有两种不同方位斜率的磁转变组成。磁头位置是从通过窄磁头读取伺服图案而生成的脉冲或者双位组的相对定时得出的。TBS图案还允许对附加纵向位置(LPOS)信息进行编码而不影响横向位置误差信号(PES)的生成。这是通过使用脉冲位置调制(PPM)使转变从其标称图案位置转变而获得的。

磁带驱动器的伺服控制器计算偏斜以生成偏斜误差信号(SES)，SES用来调节磁带磁头相对于磁带介质的偏斜。伺服控制器可以测量当伺服图案被同一磁头上的上伺服读取元件和下伺服读取元件读取时的时间差异。可以通过由在同一磁头上的伺服带或伺服读元件之间的距离计算所读取伺服图案的时间差异的反正切来确定偏斜的角度。这一偏斜角度然后被用来调节磁头以防止对准不良。

本领域中存在对用来调节磁头以避免对准不良错误的偏斜进行确定的改进技术的需要。

发明内容

提供了用于确定用来确定偏斜误差信号(SES)以调节驱动单元中的磁头的SES偏移的计算机程序产品、系统和方法。第一磁头上的第一伺服读元件和第二伺服读元件从可记录存储介质上的伺服图案读取第一位置信息和第二位置信息。基于读取的第一位置信息和第二位置信息来关于相对于可记录存储介质的移动方向的第一朝向上的第一差异做出确定。第一伺服读元件和第二磁头上的第三伺服读元件从伺服图案读取第三位置信息和第四位置信息。基于读取的第三位置信息和第四位置信息来关于相对于可记录存储介质的移动方向的第二朝向上的第二差异做出确定。基于确定的第一差异和第二差异来计算偏移。计算的偏移被用来生成误差信号以在关于可记录存储介质的读操作和写操作期间调节第一磁头和第二磁头。

附图说明

图1图示了磁带驱动单元的实施例。

图2、图3和图4图示了磁头关于磁带介质的不同布置。

图5图示了用于计算偏斜误差信号(SES)偏移的操作的实施例。

图6图示了用于使用SES偏移来计算在写操作期间的SES以在写操作被执行之前调节磁头的偏斜的操作的实施例。

图7图示了磁头关于磁带介质的布置以及用来计算SES相关值和SES偏移的信息。

具体实施方式

描述的实施例提供了用于根据由第一磁头和第二磁头上的伺服读元件所读取的时间和物理空间信息来计算偏斜误差信号(SES)偏移的技术。第一磁头上的上伺服读元件和下伺服读元件读取第一位置信息和第二位置信息以计算第一SES，并且第一磁头上的上伺服读元件和第二磁头上的上伺服读元件读取第三位置信息和第四位置信息以计算第二SES。第一SES和第二SES然后可被用来计算SES偏移，该SES偏移被存储并且稍后被用来计算在写操作期间的SES。计算出的SES被用来在由第一磁头进行的写操作之前调节磁头的偏斜以改善第二磁头为了读取写入的数据而进行的跟踪。