[发明专利]检测体检查装置

权利要求书

1.一种检测体检查装置，包括：

磁场产生部，产生向检查容器中收存的包含检测体和磁性粒子的检查液施加的磁场；以及

测光机构，具有：朝着上述检查液照射光的光源、和设置在夹着上述检查容器与上述光源对置的位置处的检测来自上述检查液的光的检测器，

该检测体检查装置的特征在于：

上述磁场产生部具有使上述磁场的磁通密度在上述检查容器内的上述检查液中大致均匀的几何学配置。

2.如权利要求1所述的检测体检查装置，其特征在于：

上述磁场产生部具有用来对上述检查液施加上述磁场的磁体；

上述磁体以在与来自上述光源的光的入射方向相交的施加方向上施加上述磁场的方式配置在上述检查容器的附近。

3.如权利要求2所述的检测体检查装置，其特征在于：

上述施加方向是与上述入射方向和上述检查容器的长轴这二者相交的方向。

4.如权利要求2所述的检测体检查装置，其特征在于：

上述磁体包含以夹着上述检查容器的方式对置配置的第一磁体和第二磁体，上述第一磁体和上述第二磁体以由连结上述第一磁体的中心和上述第二磁体的中心的轴规定的上述施加方向与上述入射方向大致垂直的方式配置。

5.如权利要求4所述的检测体检查装置，其特征在于：

上述检查液中的上述轴上的上述磁场的磁通密度大于等于0.1T。

6.如权利要求4所述的检测体检查装置，其特征在于：

上述检查液中的上述轴上的上述磁场的磁通密度的变动小于等于0.04T/mm。

7.如权利要求4所述的检测体检查装置，其特征在于：

上述第一磁体和上述第二磁体各自的与上述检查容器对置的面比上述检查容器的内壁中的与上述检查液接触的接触部分大。

8.如权利要求7所述的检测体检查装置，其特征在于：

上述接触部分是上述检查容器的内壁中的对上述检测体检查装置设定的最大液量的上述检查液所接触的部分。

9.如权利要求7所述的检测体检查装置，其特征在于：

上述第一磁体与上述第二磁体之间的距离小于等于上述检查容器上的测光位置与上述第一磁体和上述第二磁体的下端之间的距离。

10.如权利要求7所述的检测体检查装置，其特征在于：

上述第一磁体和上述第二磁体由永磁体和由软磁性材料形成的软磁性体构成。

11.如权利要求10所述的检测体检查装置，其特征在于：

上述软磁性体配置在上述永磁体的上述检查容器侧或上述检查容器的相反侧。

12.如权利要求4所述的检测体检查装置，其特征在于，

还包括：保存上述检查容器的盘；

上述检查容器和上述第一磁体和上述第二磁体以在上述盘中上述第一磁体和上述第二磁体夹着上述检查容器的方式交互排列为圆周状。

13.如权利要求1所述的检测体检查装置，其特征在于：

上述检查容器不含具有铁磁性的材料。

14.如权利要求1所述的检测体检查装置，其特征在于，还包括：

保存上述检查容器的盘；以及

能够对上述盘装卸上述检查容器的装卸机构。

15.如权利要求14所述的检测体检查装置，其特征在于，还包括：

搅拌机构，用来以搅拌器搅拌上述检查容器内的上述检查液；

清洗机构，用来清洗上述检查容器；以及

控制部，控制上述测光机构、上述装卸机构、上述搅拌机构和上述清洗机构，

上述控制部

控制上述搅拌机构，用上述搅拌器搅拌从由上述磁场产生部产生的磁场退避了的检查容器内的检测体和磁性粒子，

控制上述装卸机构，为了向搅拌了的上述检查容器施加上述磁场而把搅拌了的上述检查容器安装到上述盘上，

控制上述测光机构，光学测量安装了的上述检查容器内的检查液，

控制上述装卸机构，从上述盘卸下由上述测光机构进行的光学测量结束了的检查容器，

控制上述清洗机构，清洗卸下了的上述检查容器。