[发明专利]测定装置

权利要求书

1.一种测定装置，其特征在于，具备：感应部（10），由以重合部的面积对应被检测物的位置的变化而变化的方式配置的线圈（1）以及导电体（2）构成，或者由以重合部的面积对应被检测物的位置的变化而变化的方式配置的线圈（1）以及磁性体（2）构成；电容器（3）以及电阻（4），构成串联电路，所述串联电路包括所述线圈（1）；电压施加单元（5），将输入电压V_i施加于所述串联电路；电压检测单元（5），检测所述电容器（3）或者所述电阻（4）的两端电压V_o；相位检测单元（5），检测所述两端电压V_o的相位；大小检测单元（5），检测所述两端电压V_o的大小；特征数据（51），将所述相位和所述大小和所述感应部（10）的环境温度和所述重合部的面积变化相关联；运算单元（5），实测所述两端电压V_o，以检测出的所述相位和所述大小为参数，基于所述特征数据（51）计算出所述感应部（10）的环境温度和所述重合部的面积变化。

2.根据权利要求1所述的测定装置，其特征在于，

所述特征数据（51）为，将所述感应部（10）的环境温度和所述重合部的面积变化作为参数，测定所述两端电压V_o的相位和大小，基于得到的测定结果而制作的数据。

3.根据权利要求1或2所述的测定装置，其为测定装置（100），其特征在于，

所述相位检测单元（5），检测出所述两端电压V_o相对于所述输入电压V_i的延迟时间D作为所述相位，所述大小检测单元（5），检测出所述两端电压V_o的峰值A作为所述大小。

4.根据权利要求1或2所述的测定装置，其为测定装置（200），其特征在于，

所述输入电压V_i为周期τ的周期函数波形，所述电压检测单元（5），通过将所述周期τ的整数n（≧1）倍除以整数m（≧8）得到的抽样周期k（τ*n/m），检测出所述两端电压V_o，所述相位检测单元（5），基于“m*整数（≧1）”个的所述两端电压V_o的检出值检测出相位成分（x）作为所述相位，所述大小检测单元（5），基于“m*整数（≧1）”个的所述两端电压V_o的检出值检测出峰值A作为所述大小。