[实用新型]一种膜层刻蚀防损伤监控设备有效
| 申请号: | 201320851584.4 | 申请日: | 2013-12-20 |
| 公开(公告)号: | CN203882952U | 公开(公告)日: | 2014-10-15 |
| 发明(设计)人: | 刘政;任章淳 | 申请(专利权)人: | 京东方科技集团股份有限公司 |
| 主分类号: | H01J37/244 | 分类号: | H01J37/244;H01L21/67 |
| 代理公司: | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人: | 李迪 |
| 地址: | 100015 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 刻蚀 损伤 监控 设备 | ||
1.一种膜层刻蚀防损伤监控设备,其特征在于,包括腔室,所述腔室中设有光源和若干个光感探头,所述光源向基板上的所述膜层照射,所述光感探头用于感应所述膜层的透光率。
2.如权利要求1所述的监控设备,其特征在于,所述腔室为真空腔室,所述真空腔室连通反应气体源;所述真空腔室中设有刻蚀装置。
3.如权利要求2所述的监控设备,其特征在于,所述刻蚀装置具体包括:
相对设置的上极板和下极板,其中一个极板接地,另外一个极板接射频电源,使得上极板和下极板之间生成对基板进行刻蚀的等离子体;
所述下极板用于放置待刻蚀的基板。
4.如权利要求3所述的监控设备,其特征在于,所述光源位于所述上极板上;
或者,所述光源位于真空腔室的侧壁;
或者,所述光源位于真空腔室的上壁。
5.如权利要求4所述的监控设备,其特征在于,所述光感探头设置于所述下极板远离所述基板的一侧。
6.如权利要求1或2所述的监控设备,其特征在于,所述光感探头的数量为5-25个,均匀分布。
7.如权利要求1或2所述的监控设备,其特征在于,还包括用于提供射频电流以产生等离子体的射频电源,所述射频电源在断电时间段进行膜层的透光率的监测。
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