[实用新型]高功率半导体激光器测试系统有效
| 申请号： | 201320802774.7 | 申请日： | 2013-12-09 |
| 公开（公告）号： | CN203606109U | 公开（公告）日： | 2014-05-21 |
| 发明（设计）人： | 白端元;高欣;薄报学;周路;朱海忱 | 申请（专利权）人： | 长春理工大学 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 长春菁华专利商标代理事务所 22210 | 代理人： | 田春梅 |
| 地址： | 130022 吉林*** | 国省代码： | 吉林;22 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 功率 半导体激光器 测试 系统 | ||
【权利要求书】：
1.高功率半导体激光器测试系统，包括噪声检测单元、单色仪、光功率计、LD驱动电源、制冷器、控制单元、制冷器驱动单元、RS232、PC机、温度控制器和温度采集单元，其特征在于，所述噪声检测单元、单色仪、光功率计、LD驱动电源、制冷器分别与高功率半导体激光器相连，所述控制单元分别与噪声检测单元、单色仪、光功率计、LD驱动电源、制冷器、RS232、制冷器驱动单元相连，所述制冷器驱动单元与制冷器相连，所述PC机分别与RS232、温度控制器相连，所述温度采集单元分别与高功率半导体激光器、温度控制器相连。
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