[实用新型]高功率半导体激光器可靠性检测系统

说明书

技术领域

本实用新型属于高功率半导体激光器可靠性检测装置领域，具体涉及一种高功率半导体激光器可靠性检测系统。

背景技术

激光器的腔面存在缺陷、发生表面漏电或p-n结退化等老化现象的发生，都会使稳态工作下的高功率半导体激光器造成过剩电噪声。这些缺陷在激光器的老化过程中生长﹑攀移，将导致器件的量子效率降低，阈值电流升高，进一步加速器件的退化。因此，检测和考察激光器两端的电噪声信号，就可以作为表征和评定高功率半导体激光器工作可靠性的重要指标。

现有的基于噪声检测的高功率半导体激光器可靠性检测方法通常是：直接测试待检测高功率半导体激光器两端的电噪声，然后利用数字频谱仪对采集到的噪声信号进行数据采样分析，并依据其分析结果对所测试的高功率半导体激光器的可靠性指标进行评价。

然而，上述的采样过程操作繁琐，所得数据分析不够准确，而且数字频谱仪沉重、庞大，不具便携性，因此，研发一种针对高功率半导体激光器的新型可靠性检测装置具有重要意义。

实用新型内容

为了解决现有高功率半导体激光器可靠性检测方法普遍利用数字频谱仪对采集到的噪声信号进行数据采样分析，其采样过程操作繁琐，所得数据分析不够准确，而且数字频谱仪沉重、庞大，不具便携性的技术问题，本实用新型提供一种高功率半导体激光器可靠性检测系统。

本实用新型解决技术问题所采取的技术方案如下：

高功率半导体激光器可靠性检测系统包括驱动电源、测试盒、放大器、数据采集处理单元、参数提取单元、存储单元和打印及显示单元；其特征在于，所述驱动电源分别与放大器、数据采集处理单元、参数提取单元、存储单元和打印及显示单元相连，并为上述各单元供电；放大器与测试盒相连，数据采集处理单元与放大器相连，参数提取单元与数据采集处理单元相连，存储单元与参数提取单元相连，打印及显示单元与存储单元相连。

本实用新型的有益效果是：该高功率半导体激光器可靠性检测系统精度高、性能可靠，体积小巧且便于携带，能够便捷、高效地满足高功率半导体激光器在各种环境条件下的可靠性检测需求，此外该可靠性检测系统还具有结构简单实用，操作方便，成本低廉，便于推广普及等优点。

附图说明

图1是本实用新型高功率半导体激光器可靠性检测系统的结构框图。

具体实施方式

下面结合附图对本实用新型做进一步详细说明。

如图1所示，本实用新型的高功率半导体激光器可靠性检测系统包括驱动电源、测试盒、放大器、数据采集处理单元、参数提取单元、存储单元和打印及显示单元。驱动电源分别与放大器、数据采集处理单元、参数提取单元、存储单元和打印及显示单元相连，并为上述各单元供电。放大器与测试盒相连，数据采集处理单元与放大器相连，参数提取单元与数据采集处理单元相连，存储单元与参数提取单元相连，打印及显示单元与存储单元相连。

驱动电源选用12V蓄电池，测试盒的外壳采用铁框架方盒，并外敷铜质薄金属盒作为屏蔽层。放大器选用DeltaTron2671型前置放大器，数据采集处理单元选用PCI-6014型数据采集卡，存储单元采用联想PC机、打印及显示单元根据不同需求，可选用电脑显示器显示或使用佳能打印机打印输出。

具体应用本实用新型的高功率半导体激光器可靠性检测系统时，将待测试的高功率半导体激光器样品放入测试盒，在驱动电源的驱动下，待测试的高功率半导体激光器进入稳态工作，此时，通过放大器对由激光器传递给测试盒的的噪声信号进行采样，该噪声信号经放大器采样并放大后输出给数据采集处理单元，数据采集处理单元滤除杂波信号后输出信号给参数提取单元，参数提取单元利用领域内通用的压缩感知法从收到的信号中提取出用以检测待测激光器可靠性的有效信号，并将依据有效信号得到的检测结果输出给存储单元，存储单元存储检测结果并将检测结果传送给打印及显示单元，打印及显示单元根据用户需要对检测结果进行打印或显示。

本实用新型的高功率半导体激光器可靠性检测系统精度高、性能可靠，体积小巧而且便于携带，能够便捷、高效地满足高功率半导体激光器在各种环境条件下的可靠性检测需求，此外该可靠性检测系统还具有结构简单实用，操作方便，成本低廉，便于推广普及等优点。