[实用新型]相移剪切电子散斑干涉仪

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种散斑干涉仪，具体涉及一种相移剪切电子散斑干涉仪，用于对物体变形后表面微位移量的精确测量。

背景技术

复合材料的外场原位检测主要用超声法、敲击法、声阻法、板波法和谐振法等,而复合材料的声衰减很大,这些方法只能检测薄型材料表面及近表面缺陷,而且一次检测区域非常小,大多需要耦合剂,检测速度非常慢,作为常规手工检测不现实。

基于干涉原理的激光电子剪切散斑干涉成像技术是20世纪80年代兴起的用于表面变形测量的新型光学技术,具有非接触,无污染,不受工件几何外形和尺寸限制,全场检测,视频显示,检测速率高,检测灵敏度高,缺陷尺寸可测量,不用避光,不需专门隔振,计算机实时图像记录等特点，因此广泛用于室内外快速无损检测。

剪切电子散斑干涉术是一种测量离面位移导数场的激光干涉测量新技术。它除了电子散斑干涉术（ESPI,Electronic Speckle Pattern Interferometry）的许多优点外，还有光路简单，对测量环境要求低等特点。由于剪切电子散斑干涉是测量位移导数，因此，在自动消除刚体位移的同时对于缺陷受载的应变集中十分灵敏，因此被广泛地应用于无损检测（NDT,nondestructive testing）领域。

然而，目前采用剪切电子散斑干涉术的散斑干涉仪都存在结构复杂、操作繁琐等缺点。

发明内容

本实用新型目的是：针对上述问题，提供一种结构简单、操作方便的相移剪切电子散斑干涉仪。

本实用新型的技术方案是：一种相移剪切电子散斑干涉仪，它包括水平布置的光学平台、以及布置在该光学平台台面上的测试架和激光发射装置；

所述激光发射装置包括箱体和设于该箱体内的激光器，所述箱体的箱体壁上开设有透光孔，且该透光孔处安装有位于所述箱体外部、且位于所述激光器的激光出射光路上的扩束镜，所述测试架上固定有位于从所述扩束镜出射的光束的光路上的受检物，还包括向所述受检物施加荷载的加载装置；

所述箱体的上面固定设置一壳体，该壳体上安装有位于从受检物表面反射的光束的光路上的透镜镜头，该壳体内安装有：位于从透镜镜头透射出的光束的光路上且用于得到偏振方向相互垂直的两束光的剪切器、以及位于从所述剪切器出射的光束的光路上的CCD摄像机，所述CCD摄像机与计算机相连。

所述测试架的底部设有一磁性底座上，该磁性底座吸附固定在所述光学平台的台面上。

所述激光发射装置通过螺丝固定在所述光学平台的台面上。

所述光学平台上布置有将所述测试架、激光发射装置和CCD摄像机收容在其内的防尘罩。

本实用新型的优点是：本实用新型这种相移剪切电子散斑干涉仪是一种基于干涉原理的激光电子剪切散斑干涉成像技术研发的用于室内外快速无损检测的高精密光测力学仪器，它具有非接触、无污染、不受工件几何外形和尺寸限制、全场检测、视频显示、测速率高、检测灵敏度高、缺陷尺寸可测量、无需避光、不需专门隔振、计算机实时图像记录等特点。本仪器是采用错位散斑机理，其将主要部件集中设置在一箱体中，从而使得本仪器具有结构简单合理、体型轻小、携带方便的特点，可广泛用于现场环境的测量。

附图说明

下面结合附图及实施例对本实用新型作进一步描述：

图1为本实用新型实施例的结构简图；

图2为本实用新型实施例中激光发射装置的结构简图；

图3为实用新型实施例中部分结构示意图。

其中：a-受检物，1-光学平台，2-测试架，3-壳体，4-透镜镜头，5-激光发射装置，6-CCD摄像机，7-磁性底座，8-箱体，9-激光器，10-透光孔，11-扩束镜，12-剪切器，13-反光镜。

具体实施方式

实施例：参照图1所示，本实施例所提供的这种相移剪切电子散斑干涉仪包括水平布置的光学平台1，该光学平台1的台面上布置有测试架2和激光发射装置5。其中，测试架2上可以固定受检物a，激光发射装置5能够发出激光光束。本实施例中，所述测试2的底部设有一磁性底座7，该磁性底座7吸附固定在所述光学平台1的台面上，这样可以方便测试架2在光学平台1上的位置调整。所述激光发射装置5是通过螺丝固定在光学平台1上的。