[实用新型]传感器老化试验测试平台有效

专利信息
申请号: 201320577043.7 申请日: 2013-09-17
公开(公告)号: CN203432605U 公开(公告)日: 2014-02-12
发明(设计)人: 许耀文;李伟;张小云;江宏伟 申请(专利权)人: 科瑞(苏州工业园区)工业电子有限公司
主分类号: G01D18/00 分类号: G01D18/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 215000 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 传感器 老化试验 测试 平台
【权利要求书】:

1.一种传感器老化试验测试平台,其特征是:包括精密热风烤箱(18)、试验品传输系统及控制系统;所述试验品传输系统与所述精密热风烤箱(18)相连,将试验品送入或者带出所述精密热风烤箱(18);所述控制系统控制所述精密热风烤箱(18)与所述试验品传输系统的运行;所述控制系统包括温度控制器(1)、加热冷却计时器(7)及总老化时间计时器(28),所述温度控制器(1)用于设定所述精密热风烤箱(18)的温度,所述加热冷却计时器(7)用于设定试验品加热与冷却的时间,所述总老化时间计时器(28)用于设定整个老化试验所需时间。

2.按照权利要求1所述的传感器老化试验测试平台,其特征是:所述控制系统还包括超温警报灯(14)。

3.按照权利要求1所述的传感器老化试验测试平台,其特征是:所述控制系统还包括计时器开关按钮(15)、加热开关按钮(16)及运转开关按钮(17),所述运转开关按钮(17)用于控制所述温度控制器(1),所述加热开关按钮(16)用于使所述精密热风烤箱(18)按照所述温度控制器(1)设定的温度加热,所述计时器开关按钮(15)用于操作所述加热冷却计时器(7)及所述总老化时间计时器(28)。

4.按照权利要求1所述的传感器老化试验测试平台,其特征是:所述温度控制器(1)包括温度设置按钮(2)、温度调节按钮(3)、光标左移按钮(4)、当前温度显示数码管(5)及设定温度显示数码管(6)。

5.按照权利要求1所述的传感器老化试验测试平台,其特征是:所述加热冷却计时器(7)包括OFF数码管拨码盘(8)、OFF数码管(9)、ON数码管拨码盘(10)及ON数码管(11)。

6.按照权利要求1所述的传感器老化试验测试平台,其特征是:所述总老化时间计时器(28)包括总计时器拨码盘(12)及总计时器显示数码管(13)。

7.按照权利要求1所述的传感器老化试验测试平台,其特征是:所述精密热风烤箱(18)上设置有窗口(19)。

8.按照权利要求1所述的传感器老化试验测试平台,其特征是:所述试验品传输系统采用气动方式,包括气阀(25)、烤箱密封塞(23)及传输系统导轨(21);所述传输系统导轨(21)的一端连接在所述精密热风烤箱(18)上开的烤箱密封口(20)上,其另一端连接在所述烤箱密封塞(23)上,所述烤箱密封塞(23)连接在所述气阀(25)上。

9.按照权利要求8所述的传感器老化试验测试平台,其特征是:所述传输系统导轨(21)上设置有托盘(22)。

10.按照权利要求8所述的传感器老化试验测试平台,其特征是:所述传输系统导轨(21)的上方设置有常温冷却系统(27)。

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