[实用新型]芯片式微陀螺的减振测试装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及振动测试技术领域，特别是一种芯片式微陀螺的减振测试装置。

背景技术

芯片式微陀螺是典型的MEMS惯性传感器，其传感器结构利用微电子加工工艺制备，测控电路采用ASIC制备，结构芯片和电路芯片封装在同一个管壳内，具有体积小、重量轻、价格便宜、能大批量生产等优点，在军民两方面都具有广泛的应用前景。在民用方面，主要用于汽车工业、工业监控及消费类产品和机器人技术，如气囊、防抱死系统、偏航速率传感器、翻滚速率传感器、图象稳定及玩具等等；在军用领域，主要用于灵巧炸弹、智能炮弹、战术导弹、新概念武器和微型飞机的自主导航制导系统等。

芯片式微陀螺的工作环境往往比较恶劣，受到振动、冲击、温度等作用。无论是陀螺单独使用还是与加速度计组成微惯性测量系统，都需要进行减振设计。因此，芯片式微陀螺在研制和生产过程中需要进行振动试验，评估减振后的芯片式微陀螺在振动环境中的性能。目前芯片式微陀螺的减振测试机构安装复杂、操作繁琐、不易加工，且减振系统谐振频率不易调节，不能满足批量生产和微陀螺实时应用的要求。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种结构简单、安装方便、频率可调的芯片式微陀螺的减振测试装置。

实现本实用新型目的的技术解决方案为：一种芯片式微陀螺减振测试装置，包括胶盒、胶盖、减振胶、质量块和基板，其中胶盒通过其底部设置的安装孔固定于振动台上，胶盒腔体内壁设有环绕内壁的第一凸台，质量块外壁中间位置设有环绕外壁的第二凸台，减振胶上设有与第二凸台相配合的装配凹槽，质量块和减振胶装配后置于胶盒腔体内的第一凸台上，胶盖中间开孔且与胶盒配套设置，质量块从胶盖中间孔中穿过，胶盖内表面沿开孔边沿设有第三凸台且第三凸台压置于减振胶上，质量块的顶部固定设置基板，基板的上表面设有两个第四凸块用于固定芯片式微陀螺。

本实用新型与现有技术相比，其显著优点为：（1）芯片式微陀螺减振测试装置结构简单，易于加工和装配；（2）质量块可选择不同的材料，获得不同的质量特性，因此减振测试装置的谐振频率易调节；（3）减振胶材料为橡胶弹性阻尼材料，结构形式简单，易于制备；（4）芯片式微陀螺安装到减振测试装置简单、方便，满足批量生产要求；（5）改变基板尺寸或基板上螺纹孔位置，可安装不同尺寸的芯片式微陀螺，减振测试装置的兼容性好。

附图说明

图1是本实用新型芯片式微陀螺的减振测试装置的总体结构剖视图。

图2是本实用新型装置中胶盒的俯视图。

图3是本实用新型装置中胶盖的结构示意图，其中(a)为俯视图，(b)为剖视图。

图4是本实用新型装置中减振胶的结构示意图，其中(a)为环形减振胶的俯视图，(b)为L型减振胶的俯视图，(c)为减振胶的剖视图。

图5是本实用新型装置中质量块的结构示意图，其中(a)为主视图，(b)为俯视图。

图6是本实用新型装置中基板的结构示意图，其中(a)为俯视图，(b)为左视图。

具体实施方式

下面结合附图及具体实施例对本实用新型作进一步详细说明。

结合图1，本实用新型芯片式微陀螺的减振测试装置，用来进行芯片式微陀螺的减振测试，该装置包括胶盒1、胶盖2、减振胶3、质量块4和基板5，其中胶盒1通过其底部设置的安装孔12固定于振动台上，胶盒1腔体内壁设有环绕内壁的第一凸台11，质量块4外壁中间位置设有环绕外壁的第二凸台41，减振胶3上设有与第二凸台41相配合的装配凹槽，质量块4和减振胶3装配后置于胶盒1腔体内的第一凸台11上，胶盖2中间开孔且与胶盒1配套设置，质量块4从胶盖2中间孔中穿过，胶盖2内表面沿开孔边沿设有第三凸台21且第三凸台21压置于减振胶3上，质量块4的顶部固定设置基板5，基板5的上表面设有两个第四凸块51用于固定芯片式微陀螺。

结合图2～3，胶盒1为顶部开口的长方体，腔体壁上有四个螺纹孔，用于连接胶盒1和胶盖2，胶盖2通过螺钉固定于胶盒1顶部的开口上。胶盒1底面有三个安装孔12，用于将减振测试装置固定在振动台上。胶盖2为中间开孔的矩形平板，孔的尺寸大于质量块4的尺寸，胶盖2内表面的第三凸台21压置于减振胶3上，达到固定减振胶3和质量块4的目的。

结合图4，减振胶3为环形结构环绕质量块4中第二凸台41一周，或者为L型结构设置于质量块4中第二凸台41的四个拐角。