[实用新型]芯片式微陀螺的减振测试装置有效

专利信息
申请号: 201320547641.X 申请日: 2013-09-04
公开(公告)号: CN203455010U 公开(公告)日: 2014-02-26
发明(设计)人: 施芹;裘安萍;夏国明;苏岩;丁衡高 申请(专利权)人: 南京理工大学
主分类号: G01C25/00 分类号: G01C25/00;G01M7/02
代理公司: 南京理工大学专利中心 32203 代理人: 朱显国
地址: 210094 *** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 芯片 式微 陀螺 测试 装置
【权利要求书】:

1.一种芯片式微陀螺的减振测试装置,其特征在于:包括胶盒(1)、胶盖(2)、减振胶(3)、质量块(4)和基板(5),其中胶盒(1)通过其底部设置的安装孔(12)固定于振动台上,胶盒(1)腔体内壁设有环绕内壁的第一凸台(11),质量块(4)外壁中间位置设有环绕外壁的第二凸台(41),减振胶(3)上设有与第二凸台(41)相配合的装配凹槽,质量块(4)和减振胶(3)装配后置于胶盒(1)腔体内的第一凸台(11)上,胶盖(2)中间开孔且与胶盒(1)配套设置,质量块(4)从胶盖(2)中间孔中穿过,胶盖(2)内表面沿开孔边沿设有第三凸台(21)且第三凸台(21)压置于减振胶(3)上,质量块(4)的顶部固定设置基板(5),基板(5)的上表面设有两个第四凸块(51)用于固定芯片式微陀螺。 

2.根据权利要求1所述的芯片式微陀螺的减振测试装置,其特征在于:所述胶盒(1)为顶部开口的长方体,胶盖(2)通过螺钉固定于胶盒(1)顶部的开口上。 

3.根据权利要求1所述的芯片式微陀螺的减振测试装置,其特征在于:所述基板(5)通过螺钉固定在质量块(4)的顶部。 

4.根据权利要求1所述的芯片式微陀螺的减振测试装置,其特征在于:所述基板(5)上表面的两个第四凸块(51)关于基板(5)的上表面中心平行对称,并且每个第四凸台(51)上设有两个螺纹孔,用于安装芯片式微陀螺。 

5.根据权利要求1所述的芯片式微陀螺的减振测试装置,其特征在于:减振胶(3)直接安装在质量块(4)上的凸台(41),或采用粘接剂将减振胶(3)粘接在质量块(4)上的凸台(41)。 

6.根据权利要求1所述的芯片式微陀螺的减振测试装置,其特征在于:质量块(4)的材料为铝、铁或铜。 

7.根据权利要求2所述的芯片式微陀螺的减振测试装置,其特征在于:所述减振胶(3)为环形结构环绕质量块(4)中第二凸台(41)一周,或者为L型结构设置于质量块(4)中第二凸台(41)的四个拐角。 

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