[实用新型]用于毫米波准光功率合成远近场测试的调节装置

权利要求书

1.用于毫米波准光功率合成远近场测试的调节装置，其特征在于：包括横杆一（1）、绞盘一（2）及绞盘二（3），所述绞盘一（2）、绞盘二（3）分别固定在横杆一（1）的两端；

所述绞盘一（2）上设有能够以绞盘一（2）为中心点而转动的横杆二（21）、横杆三（22）、横杆四（23），所述横杆二（21）、横杆三（22）、横杆四（23）上对应设置有能够分别沿横杆二（21）、横杆三（22）、横杆四（23）移动的移位基座二（211）、移位基座三（221）、移位基座四（231），所述移位基座二（211）、移位基座三（221）、移位基座四（231）上对应设置有竖杆二（212）、竖杆三（222）、竖杆四（232），所述竖杆二（212）、竖杆三（222）、竖杆四（232）上对应设有能够分别沿竖杆二（212）、竖杆三（222）、竖杆四（232）移动的夹具二（213）、夹具三（223）、夹具四（233）；

所述绞盘二（3）上设有能够以绞盘二（3）为中心点而转动的横杆五（31）、横杆六（32）、横杆七（33），所述横杆五（31）、横杆六（32）、横杆七（33）上对应设置有能够分别沿横杆五（31）、横杆六（32）、横杆七（33）移动的移位基座五（311）、移位基座六（321）、移位基座七（331），所述移位基座五（311）、移位基座六（321）、移位基座七（331）上对应设置有竖杆五（312）、竖杆六（322）、竖杆七（332），所述竖杆五（312）、竖杆六（322）、竖杆七（332）上对应设有能够分别沿竖杆五（312）、竖杆六（322）、竖杆七（332）移动的夹具五（313）、夹具六（323）、夹具七（333）；

所述移位基座二（211）、移位基座三（221）、移位基座四（231）、移位基座五（311）、移位基座六（321）、移位基座七（331）上均设有锁紧装置；

所述夹具二（213）、夹具三（223）、夹具四（233）、夹具五（313）、夹具六（323）、夹具七（333）上均设有锁紧装置；

所述横杆一（1）上设有能够沿横杆一（1）移动的定位栅格框架（4），所述定位栅格框架（4）上装配有多根呈水平和竖直交叉分布的钢丝。

2.根据权利要求1所述的用于毫米波准光功率合成远近场测试的调节装置，其特征在于：所述绞盘一（2）、绞盘二（3）及各个横杆的活动端的下方均设有滚轮。

3.根据权利要求1所述的用于毫米波准光功率合成远近场测试的调节装置，其特征在于：所述除横杆一（1）以外的所有横杆的长度均为80cm，宽度均为6cm。

4.根据权利要求1所述的用于毫米波准光功率合成远近场测试的调节装置，其特征在于：所述各个移位基座的长度均为8cm，宽度均为10cm。

5.根据权利要求1所述的用于毫米波准光功率合成远近场测试的调节装置，其特征在于：所述各个竖杆的长度均为80cm。

6.根据权利要求1所述的用于毫米波准光功率合成远近场测试的调节装置，其特征在于：所述定位栅格框架（4）的形状为方形，其长、宽分别为80cm、80cm，定位栅格框架（4）的边框宽度为8cm，相邻两条平行的钢丝之间的距离为0.1cm。

7.根据权利要求1所述的用于毫米波准光功率合成远近场测试的调节装置，其特征在于：所述定位栅格框架（4）的长度方向、高度方向均设有标尺。

8.根据权利要求1所述的用于毫米波准光功率合成远近场测试的调节装置，其特征在于：所述各个横杆、竖杆上均设有长度标尺，且长度标尺的最小刻度为0.5mm。

9.根据权利要求1所述的用于毫米波准光功率合成远近场测试的调节装置，其特征在于：所述绞盘一（2）、绞盘二（3）的直径为20cm，绞盘一（2）、绞盘二（3）上均设有角度标尺，且角度标尺的最小刻度为1°。

10.根据权利要求1所述的用于毫米波准光功率合成远近场测试的调节装置，其特征在于：所述绞盘一（2）、绞盘二（3）及各个横杆均采用不锈钢材料制成，所述定位栅格框架（4）、各个竖杆和夹具采用硬铝材料制成。