[实用新型]适用于半导体芯片的单面腐蚀装置有效
申请号: | 201320501418.1 | 申请日: | 2013-08-16 |
公开(公告)号: | CN203456426U | 公开(公告)日: | 2014-02-26 |
发明(设计)人: | 谢坚明;丁军;叶新民;冯东明;王新潮 | 申请(专利权)人: | 江阴新顺微电子有限公司 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67 |
代理公司: | 江阴市同盛专利事务所(普通合伙) 32210 | 代理人: | 唐纫兰 |
地址: | 214434 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 适用于 半导体 芯片 单面 腐蚀 装置 | ||
1.一种适用于半导体芯片的单面腐蚀装置,其特征在于所述装置包括工作台(1)、腐蚀系统(2)、上液系统(3)和循环回流系统(4),
所述腐蚀系统(2)置于工作台(1)中,腐蚀系统(2)有多个,多个腐蚀系统(2)在工作台(1)中并排布置;每个腐蚀系统(2)包括一槽体(21),槽体(21)底部设置有一腐蚀液注入口(22),腐蚀液注入口(22)出口设置有一第一阻尼板(23),槽体(21)中部设置有一第二阻尼板(24),第二阻尼板(24)上竖直设置有多个承片柱(25),槽体(21)上部槽壁设置有溢流孔(26);
所述上液系统(3)包括一储液槽(31)和上液泵(32),上液泵(32)进口通过第一管道(33)与储液槽(31)相连,出口通过一第二管道(34)接入腐蚀系统(2)的槽体(21)底部的腐蚀液注入口(22),第一管道(33)上引出有一第一支管(331),第一支管(331)上装有回收阀(332),第二管道(34)上还引出有一第二支管(341),第二支管(341)接入所述上液系统(3)的储液槽(31),第二支管(341)上还装有回流阀(342);
所述循环回流系统(4)包括一第三管道(41),第三管道(41)与工作台(1)底部相连接,第三管道(41)上接出一第三支管(411),第三支管(411)接入上液系统(3)的储液槽(31),该第三支管(411)上装有一溢出阀(412),第三支管(411)后的第三管道(41)上装有一清洗阀(413)。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
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H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造