[实用新型]集成电路芯片测试分选系统双通道测试装置

权利要求书

1.一种集成电路芯片测试分选系统双通道测试装置，包括斜置下料槽，其特征在于，所述斜置下料槽上方延伸方向线上设有与斜置下料槽对接的储料管，所述储料管出料端口与下料槽上端口之间设有由往复气缸驱动的用于控制出料的挡杆，斜置下料槽下方的机台上设置有可左右滑移运行的双通道换道机构，下料槽下侧端设置有交叉控制下料槽末端两个芯片下料的手指气缸，所述手指气缸具有挡住末端第一芯片下落的第一手指和用于按住第二芯片的第二手指，所述双通道换道机构下方设置有通往芯片测试工位的导槽。

2.根据权利要求1所述的一种集成电路芯片测试分选系统双通道测试装置，其特征在于，所述左右滑移运行的双通道换料机构由气缸驱动。

3.根据权利要求1所述的一种集成电路芯片测试分选系统双通道测试装置，其特征在于，所述芯片测试工位包括固定于导槽两侧的电路测试接头，所述电路测试接头下方设有用于挡住芯片下落可沿测试通道垂直方向往复运动的弯折挡杆。

4.根据权利要求1所述的一种集成电路芯片测试分选系统双通道测试装置，其特征在于，所述测试工位上方还设有夹紧电路测试接头的夹紧气缸。

5.根据权利要求1所述的一种集成电路芯片测试分选系统双通道测试装置，其特征在于，所述导槽两边还设置有吹气管。