[实用新型]一种异形非接触IC卡智能测试仪

说明书

技术领域

本实用新型涉及非接触式IC卡的测试相关技术领域，尤其是指一种异形非接触IC卡智能测试仪。

背景技术

非接触式IC卡又称射频卡，非接触式IC卡与读写设备无电路接触、由非接触式的读写技术进行读写（例如光或无线电技术），其内嵌芯片除了存储单元，控制逻辑外，还增加了射频收发电路。目前非接触式IC卡的应用越来越广泛，例如：交通卡、门禁控制卡、电子消费卡、银行卡等领域都在不断应用非接触式IC卡，且均须符合ISO7816标准；同时，还有许多各种各样的符合ISO7816标准异形非接触式IC卡，形状上是各式各样，更能融入于市场需求。

一张普通的IC卡，从芯片绑定到封装成成品，需要经过许许多多的特殊工艺，它首先将IC芯片与一定大小的铜线或铜箔天线焊接后，将其按一定的数量排列层压在PVC材料中，经过层压后，含IC芯片的PVC材料通常叫中料或INLAY，这些都是由IC卡本身的性质所决定的。其中很重要的一个环节，就是对INLAY的检测，传统的做法，对每个IC卡的INLAY都是用一个13.56兆频率的非接触式IC卡的读写设备进行单个检测，这种测试方法最主要的缺陷是：（1）准确度不高，存在有相邻的干扰；（2）效率低，当检测完所有的INLAY时，至少需要几分钟，而且还存在漏测现象。

因此，一种准确度和效率更高的测试装置成为了IC卡生产商的迫切需求。

实用新型内容

本实用新型是为了克服现有技术中检测非接触IC卡准确度不高且效率低下的不足，提供了一种检测准确度高且检测过程效率高的异形非接触IC卡智能测试仪。

为了实现上述目的，本实用新型采用以下技术方案：

一种异形非接触IC卡智能测试仪，包括测试主体，所述测试主体的表面设有IC卡感应区，所述测试主体的侧面设有用于与PC机连接的第一通讯接口和若干用于与PC机连接的第二通讯接口，所述测试主体的内部设有MCU控制器、若干读卡器、与读卡器相对应的天线模块和用于控制天线模块的控制模块，所述的MCU控制器连接读卡器和控制模块，所述的读卡器连接控制模块，所述的控制模块连接天线模块，所述的MCU控制器通过第一通讯接口与PC机连接，所述的读卡器通过第二通讯接口与PC机连接。

将IC卡放置于IC卡感应区之上，PC机发出检测指令，通过第一通讯接口给MCU控制器，MCU控制器通过控制模块控制天线模块，通过天线模块来检测IC卡内部的情况，然后将检测到的结果通过控制模块传递给读卡器，读卡器一方面将信息反馈给MCU控制器，另一方面通过第二通讯接口发送给PC机，这样设计不需要单独一个个的对天线进行检测，而且能够对指定的天线进行直接检测，达到了检测准确度高且检测过程效率高的目的。

作为优选，所述的天线模块包括若干天线，所述的控制模块包括选择器、与天线相对应的微型继电器和用于驱动微型继电器的驱动电路，所述的MCU控制器连接选择器，所述的选择器连接驱动电路，所述的驱动电路连接微型继电器，所述的微型继电器连接天线。

作为优选，所述的读卡器输入端连接微型继电器的输入端，所述的读卡器输出端连接MCU控制器的输入端。

作为优选，所述的天线模块安装在与IC卡感应区相对应的位置，所述天线模块的发射频率与读卡器的频率一致。

作为优选，所述测试主体的表面设有用于显示检测结果的LCD显示屏，所述的LCD显示屏连接MCU控制器。

作为优选，所述测试主体的侧面设有用于播报检测结果的语音提醒装置，所述的语音提醒装置连接MCU控制器。

作为优选，所述的第一通讯接口为RS232接口。

作为优选，所述的第二通讯接口为RS232接口或者USB接口。

本实用新型的有益效果是：检测准确度高，通过PC机运行程序进而对IC卡进行检测，用RS232串口自动逐个切换扫描，最大限度的减少人为的错误；检测过程效率高，通过多个读卡器同时操作，比现有技术的单个检测速度提高多倍；使用范围广，只要将IC卡置于IC卡感应区内即可对其进行检测。

附图说明

图1是本实用新型检测主体的结构示意图；

图2是本实用新型的检测原理框图。

图中：1.测试主体，2.IC卡感应区，3.第一通讯接口，4.第二通讯接口，5.LCD显示屏，6.语音提醒装置，7.PC机，8.MCU控制器，9.读卡器，10.天线模块，11.天线，12.选择器，13.微型继电器，14.驱动电路。

具体实施方式