[实用新型]一种异形非接触IC卡智能测试仪有效

专利信息
申请号: 201320413263.6 申请日: 2013-07-11
公开(公告)号: CN203405823U 公开(公告)日: 2014-01-22
发明(设计)人: 忻伟 申请(专利权)人: 上海聚硕科技有限公司
主分类号: G06K7/00 分类号: G06K7/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 201808 上*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 异形 接触 ic 智能 测试仪
【权利要求书】:

1.一种异形非接触IC卡智能测试仪,其特征是,包括测试主体(1),所述测试主体(1)的表面设有IC卡感应区(2),所述测试主体(1)的侧面设有用于与PC机(7)连接的第一通讯接口(3)和若干用于与PC机(7)连接的第二通讯接口(4),所述测试主体(1)的内部设有MCU控制器(8)、若干读卡器(9)、与读卡器(9)相对应的天线模块(10)和用于控制天线模块(10)的控制模块,所述的MCU控制器(8)连接读卡器(9)和控制模块,所述的读卡器(9)连接控制模块,所述的控制模块连接天线模块(10),所述的MCU控制器(8)通过第一通讯接口(3)与PC机(7)连接,所述的读卡器(9)通过第二通讯接口(4)与PC机(7)连接。

2.根据权利要求1所述的一种异形非接触IC卡智能测试仪,其特征是,所述的天线模块(10)包括若干天线(11),所述的控制模块包括选择器(12)、与天线(11)相对应的微型继电器(13)和用于驱动微型继电器(13)的驱动电路(14),所述的MCU控制器(8)连接选择器(12),所述的选择器(12)连接驱动电路(14),所述的驱动电路(14)连接微型继电器(13),所述的微型继电器(13)连接天线(11)。

3.根据权利要求2所述的一种异形非接触IC卡智能测试仪,其特征是,所述的读卡器(9)输入端连接微型继电器(13)的输入端,所述的读卡器(9)输出端连接MCU控制器(8)的输入端。

4.根据权利要求1或2所述的一种异形非接触IC卡智能测试仪,其特征是,所述的天线模块(10)安装在与IC卡感应区(2)相对应的位置,所述天线模块(10)的发射频率与读卡器(9)的频率一致。

5.根据权利要求1所述的一种异形非接触IC卡智能测试仪,其特征是,所述测试主体(1)的表面设有用于显示检测结果的LCD显示屏(5),所述的LCD显示屏(5)连接MCU控制器(8)。

6.根据权利要求1或2所述的一种异形非接触IC卡智能测试仪,其特征是,所述测试主体(1)的侧面设有用于播报检测结果的语音提醒装置(6),所述的语音提醒装置(6)连接MCU控制器(8)。

7.根据权利要求1或2或3或5所述的一种异形非接触IC卡智能测试仪,其特征是,所述的第一通讯接口(3)为RS232接口。

8.根据权利要求1或2或3或5所述的一种异形非接触IC卡智能测试仪,其特征是,所述的第二通讯接口(4)为RS232接口或者USB接口。

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