[实用新型]一种超导薄膜磁热特性测试用可视化低温杜瓦系统

说明书

技术领域

本实用新型涉及超导材料测试设备技术领域，具体地，涉及一种超导薄膜磁热特性测试用可视化低温杜瓦系统。

背景技术

薄膜材料，尤其是超导薄膜在高温超导带材中有着越来越重要的应用。在磁场工作环境中的变形或受力特征是高温超导领域研究非常关注的重要问题之一。

一般而言，超导薄膜材料的电磁学特性往往同其力学变形、温度及环境磁场相互关联（耦合），因此设计一套能满足其特殊应用环境的装置，是对其电磁学特性测试的必要的、不可或缺的前提。该装置的研究、开发，能够为超导薄膜磁热特性的测试提供可视的测试平台，提供一个必要的温度环境，具有一定的科学意义。

根据已有的文献调研可知，截止目前，针对超导薄膜力-磁-热耦合特性研究较少，主要是由于其苛刻的测试环境很难满足，截止目前，国内尚无可实现超导薄膜磁热特性测试且可视的低温杜瓦装置，这严重阻碍了我国超导薄膜的性能研究。

在实现本实用新型的过程中，发明人发现现有技术中至少存在使用不方便和应用前景差等缺陷。

实用新型内容

本实用新型的目的在于，针对上述问题，提出一种超导薄膜磁热特性测试用可视化低温杜瓦系统，以实现使用方便和应用前景好的优点。

为实现上述目的，本实用新型采用的技术方案是：一种超导薄膜磁热特性测试用可视化低温杜瓦系统，包括密封式配合安装的低温密封容器和GM制冷机，配合设置在所述低温密封容器内部的真空室、位于真空室上方的GM制冷机连接头、用于放置的待测超导样品薄膜的样品放置架、以及连接在GM制冷机连接头与样品放置架之间的传热组件，分别配合安装在所述低温密封容器的上端和下端的外部光学测试系统和激光脉冲器，以及包覆在所述低温密封容器外围的磁体。

进一步地，所述低温密封容器，为整体呈倒置凹形、且具有不锈钢外壳的低温密封容器；所述低温密封容器，包括内部依次贯通设置的第一竖直部件、水平部件和第二竖直部件；

所述真空室位于第一竖直部件中，所述GM制冷机的连接头位于第一竖直部件中真空室的上方；所述外部光学测试系统和激光脉冲器，分别配合安装在第二竖直部件的上端和下端；所述磁体包覆在第二竖直部件的外围。

进一步地，所述不锈钢外壳，包括可拆卸式密封连接的不锈钢本体和不锈钢上盖，所述外部光学测试系统安装在不锈钢上盖上。

进一步地，在所述低温密封容器的不锈钢外壳与真空室之间，设有防辐射屏。

进一步地，与所述外部光学测试系统和激光脉冲器相配合，分别设有第一观察窗和第二观察窗。

进一步地，在所述第一观察窗与外部光学测试系统之间、以及第二观察窗与激光脉冲器之间，分别设有O型密封圈。

进一步地，所述低温密封容器与GM制冷机之间，通过密封法兰密封安装。

进一步地，与所述密封法兰相匹配，还设有螺栓。

进一步地，所述传热组件，包括至少一根高纯导热铜棒。

本实用新型各实施例的超导薄膜磁热特性测试用可视化低温杜瓦系统，由于包括密封式配合安装的低温密封容器和GM制冷机，配合设置在低温密封容器内部的真空室、位于真空室上方的GM制冷机连接头、用于放置的待测超导样品薄膜的样品放置架、以及连接在GM制冷机连接头与样品放置架之间的传热组件，分别配合安装在低温密封容器的上端和下端的外部光学测试系统和激光脉冲器，以及包覆在低温密封容器外围的磁体；可以在结合GM制冷机及杜瓦容器提供的特殊环境下，通过全场的、实时的、非接触的对超导薄膜进行测量，获得超导薄膜的表面变形信息；从而可以克服现有技术中使用不方便和应用前景差的缺陷，以实现使用方便和应用前景好的优点。

本实用新型的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本实用新型而了解。

下面通过附图和实施例，对本实用新型的技术方案做进一步的详细描述。

附图说明

附图用来提供对本实用新型的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本实用新型的实施例一起用于解释本实用新型，并不构成对本实用新型的限制。在附图中：

图1为本实用新型超导薄膜磁热特性测试用可视化低温杜瓦系统的结构示意图。

结合附图，本实用新型实施例中附图标记如下：

1-外部光学测试系统；2-O型密封圈；3-观察窗；4-高纯导热铜棒；5-样品放置架；6-激光脉冲器；7-磁体；8-真空室；9-密封法兰；10-螺栓；11-防辐射屏；12-不锈钢外壳；13-GM制冷机连接头。

具体实施方式