[实用新型]一种超导薄膜磁热特性测试用可视化低温杜瓦系统

权利要求书

1.一种超导薄膜磁热特性测试用可视化低温杜瓦系统，其特征在于，包括密封式配合安装的低温密封容器和GM制冷机，配合设置在所述低温密封容器内部的真空室、位于真空室上方的GM制冷机连接头、用于放置的待测超导样品薄膜的样品放置架、以及连接在GM制冷机连接头与样品放置架之间的传热组件，分别配合安装在所述低温密封容器的上端和下端的外部光学测试系统和激光脉冲器，以及包覆在所述低温密封容器外围的磁体。

2.根据权利要求1所述的超导薄膜磁热特性测试用可视化低温杜瓦系统，其特征在于，所述低温密封容器，为整体呈倒置凹形、且具有不锈钢外壳的低温密封容器；所述低温密封容器，包括内部依次贯通设置的第一竖直部件、水平部件和第二竖直部件；

所述真空室位于第一竖直部件中，所述GM制冷机的连接头位于第一竖直部件中真空室的上方；所述外部光学测试系统和激光脉冲器，分别配合安装在第二竖直部件的上端和下端；所述磁体包覆在第二竖直部件的外围。

3.根据权利要求2所述的超导薄膜磁热特性测试用可视化低温杜瓦系统，其特征在于，所述不锈钢外壳，包括可拆卸式密封连接的不锈钢本体和不锈钢上盖，所述外部光学测试系统安装在不锈钢上盖上。

4.根据权利要求1-3中任一项所述的超导薄膜磁热特性测试用可视化低温杜瓦系统，其特征在于，在所述低温密封容器的不锈钢外壳与真空室之间，设有防辐射屏。

5.根据权利要求1-3中任一项所述的超导薄膜磁热特性测试用可视化低温杜瓦系统，其特征在于，与所述外部光学测试系统和激光脉冲器相配合，分别设有第一观察窗和第二观察窗。

6.根据权利要求5所述的超导薄膜磁热特性测试用可视化低温杜瓦系统，其特征在于，在所述第一观察窗与外部光学测试系统之间、以及第二观察窗与激光脉冲器之间，分别设有O型密封圈。

7.根据权利要求1-3中任一项所述的超导薄膜磁热特性测试用可视化低温杜瓦系统，其特征在于，所述低温密封容器与GM制冷机之间，通过密封法兰密封安装。

8.根据权利要求7所述的超导薄膜磁热特性测试用可视化低温杜瓦系统，其特征在于，与所述密封法兰相匹配，还设有螺栓。

9.根据权利要求1-3中任一项所述的超导薄膜磁热特性测试用可视化低温杜瓦系统，其特征在于，所述传热组件，包括至少一根高纯导热铜棒。