[实用新型]一种光谱分析样品表面定位装置有效

专利信息
申请号: 201320370814.5 申请日: 2013-06-26
公开(公告)号: CN203365307U 公开(公告)日: 2013-12-25
发明(设计)人: 陈永彦;张勇;韩鹏程;屈华阳;赵雷;刘佳 申请(专利权)人: 钢研纳克检测技术有限公司
主分类号: G01N21/01 分类号: G01N21/01;G01N21/25;G01N21/63
代理公司: 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 代理人: 张军;张云珠
地址: 100081 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 光谱分析 样品 表面 定位 装置
【权利要求书】:

1.一种光谱分析样品表面定位装置,安装于光谱分析仪器中,其特征在于包括装有样品板的样品限位支撑框,样品限位支撑框设置在X轴与Y轴组成的运行装置上,样品板的下方设置有弹簧支撑装置。

2.根据权利要求1所述表面定位装置,其特征在于所述样品限位支撑框的两边设置有高度限位凸台,用于限定样品板的分析面的高度。

3.根据权利要求1所述表面定位装置,其特征在于所述X轴与Y轴组成的运行装置为正交连接。

4.根据权利要求1所述表面定位装置,其特征在于在所述弹簧支撑装置下方设置有样品板顶块。

5.根据权利要求1所述表面定位装置,其特征在于在所述X轴与Y轴之间还设置有XY轴转接板。

6.根据权利要求1或2或3所述表面定位装置,其特征在于在所述样品限位支撑框和所述X轴与Y轴组成的运行装置之间还设置有支撑平台。

7.根据权利要求1或4所述表面定位装置,其特征在于所述弹簧支撑装置设计为塔形支撑结构或圆柱形支撑结构。

8.根据权利要求3所述表面定位装置,其特征在于所述正交连接包括设置在Y轴之上并沿Y方向运行的X轴,或者包括设置在X轴之上并沿X方向运行的Y轴,且通过各自连接的电机独立控制各轴的运动,实现样品位置的改变。

9.根据权利要求1或2所述表面定位装置,其特征在于所述样品限位支撑框设计为多种规格或型号。

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