[实用新型]集成运算放大器的测试仪有效
申请号: | 201320350001.X | 申请日: | 2013-06-18 |
公开(公告)号: | CN203324439U | 公开(公告)日: | 2013-12-04 |
发明(设计)人: | 丁健;王彬彬;汪俊 | 申请(专利权)人: | 滁州学院 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28 |
代理公司: | 安徽省合肥新安专利代理有限责任公司 34101 | 代理人: | 何梅生;郭华俊 |
地址: | 239000 安徽*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 集成 运算放大器 测试仪 | ||
技术领域
本实用新型涉及一种集成运算放大器的测试仪。
背景技术
能放大直流信号的放大器叫直流放大器。直流宽带放大器可以对宽频带、小信号、交直流信号进行高增益的放大,广泛应用于军事和医用设备等高科技领域上,具有很好的发展前景。直流放大器常用于测量仪表。集成运算放大器(Integrated Operational Amplifier)简称集成运放,是由多级直接耦合放大电路组成的高增益模拟集成电路。它的增益高(可达60~180dB),输入电阻大(几十千欧至百万兆欧),输出电阻低(几十欧),共模抑制比高(60~170dB),失调与飘移小,而且还具有输入电压为零时输出电压亦为零的特点,适用于正,负两种极性信号的输入和输出。
在对集成运算放大器的测试过程中,常常需要检测输入失调电压VIO、输入失调电流IIO、开环电压增益AVD和共模抑制比KCMR等基本参数。
在现有的集成运放测试电路中,常常采用一级运放的测试电路,一般适合精度较低的集成运放测试,无法对精度较高的运算放大器进行测试。在现有的集成运放测试电路中常常采用利用传统的模拟分立元件或单片压控函数发生器MAX038作为信号源,其可产生三角波、方波、正弦波,通过调整外围元件可以改变输出频率、幅度,但由于采用模拟器件由于元件分散性太大,即使用单片函数发生器,参数也与外部元件有关,外接电阻电容对参数影响很大,因而产生的频率稳定度较差、精度低、抗干扰能力差、成本也较高。
实用新型内容
本实用新型是为避免上述已有技术中存在的不足之处,提供一种集成运算放大器的测试仪,以提高集成运放的测试精度和信号源的抗干扰性能。
本实用新型为解决技术问题采用以下技术方案。
集成运算放大器的测试仪,其结构特点是,包括输入设备、显示电路、微控制器、测试电路和信号源电路;所述测试电路、显示电路和输入设备均与所述微控制器相连接,所述测试电路还与被测集成运算放大器和信号源电路相连接。
本实用新型的集成运算放大器的测试仪还具有以下技术特点。
所述测试电路包括电阻R1~R8、电容C2、开关J1~J4、高增益运算放大器U1和双极性运算放大器集成电路U2;所述高增益运算放大器U1和双极性运算放大器集成电路U2通过电阻R5相连接。
所述信号源电路包括振荡器U3、运算放大器U4、电阻R9~R13、电容C1和电阻Rv1~Rv3;所述电阻R9~R13、电容C1和电阻Rv1~Rv3均与所述振荡器U3相连接,所述运算放大器U4通过所述电阻R10和R11与所述振荡器U3相连接。
与已有技术相比,本实用新型有益效果体现在:
本实用新型的集成运算放大器的测试仪,测试电路采用高增益运算放大器U1和双极性运算放大器集成电路U2构成两级运放电路,测试精度高。信号源电路采用了具有多种波形输出的精密振荡集成电路ICL8038,实现了高精度、高稳定度的5Hz测试信号源,信号源具有较好的抗干扰性能,提高了测试的精度和仪器的稳定性。
本实用新型的集成运算放大器的测试仪,具有测试精度高、信号源抗干扰性强、整体稳定性好等优点。
附图说明
图1为本实用新型的集成运算放大器的测试仪的结构框图。
图2为本实用新型的集成运算放大器的测试仪的测试电路的电路图。
图3为本实用新型的集成运算放大器的测试仪的信号源电路的电路图。
以下通过具体实施方式,并结合附图对本实用新型作进一步说明。
具体实施方式
参见图1,集成运算放大器的测试仪包括输入设备、显示电路、微控制器、测试电路和信号源电路;所述测试电路、显示电路和输入设备均与所述微控制器相连接,所述测试电路还与被测集成运算放大器和信号源电路相连接。
如图2,所述测试电路包括电阻R1~R8、电容C2、开关J1~J4、高增益运算放大器U1和双极性运算放大器集成电路U2;所述高增益运算放大器U1和双极性运算放大器集成电路U2通过电阻R5相连接。
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