[实用新型]集成运算放大器的测试仪有效

专利信息
申请号: 201320350001.X 申请日: 2013-06-18
公开(公告)号: CN203324439U 公开(公告)日: 2013-12-04
发明(设计)人: 丁健;王彬彬;汪俊 申请(专利权)人: 滁州学院
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 安徽省合肥新安专利代理有限责任公司 34101 代理人: 何梅生;郭华俊
地址: 239000 安徽*** 国省代码: 安徽;34
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摘要:
搜索关键词: 集成 运算放大器 测试仪
【权利要求书】:

1.集成运算放大器的测试仪,其特征是,包括输入设备、显示电路、微控制器、测试电路和信号源电路;所述测试电路、显示电路和输入设备均与所述微控制器相连接,所述测试电路还与被测集成运算放大器和信号源电路相连接。 

2.根据权利要求1所述的集成运算放大器的测试仪,其特征是,所述测试电路包括电阻R1~R8、电容C2、开关J1~J4、高增益运算放大器U1和双极性运算放大器集成电路U2;所述高增益运算放大器U1和双极性运算放大器集成电路U2通过电阻R5相连接。 

3.根据权利要求1所述的集成运算放大器的测试仪,其特征是,所述信号源电路包括振荡器U3、运算放大器U4、电阻R9~R13、电容C1和电阻Rv1~Rv3;所述电阻R9~R13、电容C1和电阻Rv1~Rv3均与所述振荡器U3相连接,所述运算放大器U4通过所述电阻R10和R11与所述振荡器U3相连接。 

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