[实用新型]一种用于LED芯片及器件的检测装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及领域属于半导体测试领域，尤其涉及一种用于LED芯片及器件检测的装置。

背景技术

LED光源以其高光效，节能，环保，寿命长，响应时间短等诸多优点成为第四代光源，已逐渐开始取代传统光源，在市场显示出广阔的潜力。尤其是大功率LED光源，在照明领域使用量非常巨大。在新兴应用市场不断出现的带动下，近些年LED市场规模快速提升。市场对于LED的需求急剧上升，与之配套的LED生产设备的需求数量也在迅猛增加，市场调研机构DisplaySearch的数据显示，2009年LED市场需求758亿颗；2010年则达960亿颗，年增长率达26%左右。预计到2014年，全球对LED的需求量将超过2000亿颗，是2009年总需求量的将近3倍。素有电子产业世界工厂之称的中国早已成为各大LED装备制装备供应商争相进入的主要市场。LED装备的需求逐渐走向自动化和专业化，技术和科技含量也在逐步的提升和发展。LED检测设备研发进入了一个全面发展的新阶段，要求设备的开发应用创新工艺和创新技术。

但目前我国绝大多数LED厂家均使用国外进口的生产与检测设备。根据LED 光电检测设备产品的功能特点和应用场所，可将其概括为实验室光电检测分析仪器和生产用光电检测设备两大体系。LED 实验室光电检测分析仪器是以产品研发和质量控制为目的，主要用于生产制造企业质量控制、检测服务机构、质检机构以及科研院所研发等各类实验室；而LED生产用光电检测设备则是应规模化生产需求出现，是指嵌入到LED生产企业生产工序中，对生产过程中LED的光、色、电等性能参数进行实时测试与控制检测的设备，对自动化技术及检测效率要求较高。面对越来越多的市场，LED器件的检测对于保证产品质量及一致性尤为重要。目前，LED技术领域测试分选设备技术相对落后，尤其是自动化程度高的自动测试分选装备主要依靠进口，价格昂贵，耗费大量资金，是制约LED器件成本，导致其成本无法下降的重要原因之一。传统的LED检测方法主要是靠两电极点触，即检测完一颗器件再检测另一颗器件，效率低下，同时设备机构动作次数多，造成设备关键零部件损耗严重。此外，这种技术需要稳定可靠，且具有高控制精度的关键部件以保证检测探针的正常工作，系统复杂，元件昂贵，设备成本高。

    综上所述，为应对越来与广阔的LED市场需求，新的高速检测手段的开发极为紧迫，根据现有的解决思路，检测设备的检测效率很难再有所提高，解决上述问题，必须通过新的技术思路，提升检测效率。

实用新型内容

针对上述技术问题，本实用新型旨在至少在一定程度上解决上述技术问题。

本实用新型专利针对以上技术背景及技术现状，着眼于新的检测手段，通过方法与结构创新，提出一种用于LED芯片及器件的检测装置。本实用新型的检测方法不同于传统的LED检测方法，传统检测方式主要是靠两电极点触，检测完一颗器件再检测另一颗器件。本实用新型采用辊式检测装置，采用扫描方式快速对同一工位的多颗测试对象进行检测，效率可提升6-10倍。

为实现上述目的，本实用新型提供了一种用于LED芯片及器件的检测装置，包括方框形蓝膜或器件基板装夹夹具、位于蓝膜或器件基板装夹夹具下方的可转动或滚动的环状阵列测试电极辊、电源与电参数采集系统，所述环状阵列测试电极辊包括以工程塑料或电木为材料的空心圆柱状基体，该空心圆柱状基体的侧面沿轴向及周向均匀设置有环状阵列通孔，每个环状阵列通孔内均向外延伸地设置有一根可弹性伸缩的金属测试电极，所述金属测试电极包括正极金属测试电极和负极金属测试电极，沿空心圆柱状基体轴向设置的每一列环状阵列通孔均匀间隔设置，各个正极金属测试电极和负极金属测试电极同电源与电参数采集系统电路连接，所述空心圆柱状基体一端还设置有由步进电机驱动的同步带轮或齿轮。

进一步地，所述蓝膜或器件基板装夹夹具包括可水平移动的上边框夹具和可上下移动的下边框夹具，该蓝膜或器件基板装夹夹具的宽度大于环状阵列测试电极辊的长度，所述下边框夹具设有用于承载和滑动LED基板器件的滑轨。

进一步地，沿空心圆柱状基体轴向上相邻两列环状阵列通孔的中心线的夹角为30-60°。

进一步地，所述金属测试电极包括一端位于金属测试电极外套内的探测针以及弹簧，所述弹簧位于探测针底部与金属测试电极外套内部，使探测针具有可伸缩性，所述金属测试电极外套上还设置有导线。

进一步地，所述金属测试电极外套与环状阵列通孔的配合方式为螺纹配合。