[实用新型]一种用于LED芯片及器件的检测装置

权利要求书

1.一种用于LED芯片及器件的检测装置，其特征在于：包括方框形蓝膜或器件基板装夹夹具(1)、位于蓝膜或器件基板装夹夹具(1)下方的可转动或滚动的环状阵列测试电极辊(2)、电源与电参数采集系统(3)，所述环状阵列测试电极辊(2)包括以工程塑料或电木为材料的空心圆柱状基体(21)，该空心圆柱状基体(21)的侧面沿轴向及周向均匀设置有环状阵列通孔，每个环状阵列通孔内均向外延伸地设置有一根可弹性伸缩的金属测试电极，所述金属测试电极包括正极金属测试电极(22)和负极金属测试电极(23)，沿空心圆柱状基体(21)轴向设置的每一列环状阵列通孔均匀间隔设置，各个正极金属测试电极(22)和负极金属测试电极(23)同电源与电参数采集系统(3)电路连接，所述空心圆柱状基体(21)一端还设置有由步进电机驱动的同步带轮(24)。

2.根据权利要求1所述的一种用于LED芯片及器件的检测装置，其特征在于：所述蓝膜或器件基板装夹夹具(1)包括可水平移动的上边框夹具(11)和可上下移动的下边框夹具(12)，该蓝膜或器件基板装夹夹具(1)的宽度大于环状阵列测试电极辊(2)的长度，所述下边框夹具(12)设有用于承载和滑动LED基板器件(5)的滑轨。

3.根据权利要求1所述的一种用于LED芯片及器件的检测装置，其特征在于：沿空心圆柱状基体(21)轴向上相邻两列环状阵列通孔的中心线的夹角为30-60°。

4.根据权利要求1所述的一种用于LED芯片及器件的检测装置，其特征在于：所述金属测试电极包括一端位于金属测试电极外套(221)内的探测针(223)以及弹簧(222)，所述弹簧(222)位于探测针(223)底部与金属测试电极外套(221)内部，使探测针(223)具有可伸缩性，所述金属测试电极外套(221)上还设置有导线(224)。

5.根据权利要求4所述的一种用于LED芯片及器件的检测装置，其特征在于：所述金属测试电极外套(221)与环状阵列通孔的配合方式为螺纹配合。

6.根据权利要求4所述的一种用于LED芯片及器件的检测装置，其特征在于：所述金属测试电极外套(221)与环状阵列通孔的配合方式为过渡配合，所述空心圆柱状基体(21)内设置有用于调节金属测试电极伸出长度的电极长度调节芯(4)，该电极长度调节芯(4)上相对地设置有与环状阵列通孔轴线重合且直径小于金属测试电极外套(221)的用于穿过导线的过线小孔。

7.根据权利要求1所述的一种用于LED芯片及器件的检测装置，其特征在于：所述电源与电参数采集系统(3)包括可编程外部直流电源(31)和电参数采集设备(32)，所述可编程外部直流电源(31)为可编程多通道直流恒流电源，所述电参数采集设备(32)为可编程多通道采集仪。