[实用新型]测试电路及测试装置有效
| 申请号： | 201320268681.0 | 申请日： | 2013-05-16 |
| 公开（公告）号： | CN203241477U | 公开（公告）日： | 2013-10-16 |
| 发明（设计）人： | 郭会斌;刘晓伟 | 申请（专利权）人： | 京东方科技集团股份有限公司;北京京东方显示技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R27/08 | 分类号： | G01R27/08;G01B7/06 |
| 代理公司： | 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 | 代理人： | 黄志华 |
| 地址： | 100015 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 测试 电路 装置 | ||
1.一种测试电路，应用于方块电阻测试，包括方块电阻测试子电路，所述方块电阻测试子电路中包括电流源，其特征在于，还包括：与所述方块电阻测试子电路连接的探针，以及设置于所述电流源与所述探针之间的第一开关控制电路；其中，
所述第一开关控制电路用于控制是否将方块电阻测试子电路电流源信号输入至与其连接的探针。
2.如权利要求1所述的测试电路，其特征在于，所述探针为单探针，所述第一开关控制电路包括：
与各个所述探针分别连接的单刀单掷开关。
3.如权利要求1所述的测试电路，其特征在于，所述探针为双探针，所述测试电路还包括：第二开关控制电路和探测电路，所述探测电路包括有电流源，其中，
所述双探针通过所述第一开关控制电路与方块电阻测试子电路电流源连接，并通过所述第二开关控制电路与探测电路电流源连接。
4.如权利要求3所述的测试电路，其特征在于，所述第一开关控制电路包括：与各个所述双探针中的一个探针分别连接的单刀双掷开关；
所述第二开关控制电路包括：与各个所述双探针中未与所述方块电阻测试子电路电流源连接的另一个探针连接的单刀单掷开关。
5.如权利要求3所述的测试电路，其特征在于，所述第一开关控制电路包括一个单刀单掷开关；
所述第二开关控制电路包括：与各个所述双探针分别连接的双刀单掷开关。
6.如权利要求3所述的测试电路，其特征在于，所述第一开关控制电路包括一个单刀单掷开关；
所述第二开关控制电路包括：与各个所述双探针的两个探针分别独立连接的单刀单掷开关。
7.如权利要求3-6任一项所述的测试电路，其特征在于，所述探测电路还包括一电流表，用于探测通电的双探针与所述探测电路电流源之间是否通过待检测导电薄膜导通。
8.一种测试装置，其特征在于，包括权利要求1-7任一项所述的测试电路。
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