[实用新型]集成电路高低温测试装置

权利要求书

1.集成电路高低温测试装置，其特征在于，包括：若干双头探针，其一端端部和一集成电路的若干引脚相连，另一端和设置在其下端的测试电路板上的若干测试盘接触；所述集成电路上侧面还通过一散热装置连接有一热电偶，所述热电偶上端和一半导体制冷／制热器件接触，所述半导体制冷／制热器件上端设置有一散热装置组件。 

2.如权利要求1所述的集成电路高低温测试装置，其特征在于：所述散热装置为铜块；所述制冷／制热器件为半导体制冷／制热器件；所述散热装置组件包括从下至上依次设置的：第一散热块、第二散热块、散热片组和风扇。 

3.如权利要求2所述的集成电路高低温测试装置，其特征在于：在所述铜块和所述半导体制冷／制热器件之间还设置有一定位块和一压块；所述集成电路设置在一浮板中间的凹槽内，所述凹槽设置有供所述若干双头探针一一穿过的通孔，所述浮板下端设置有上针模，所述上针模外侧套设有下框，所述上针模和所述下框均设置在所述测试电路板上。 

4.如权利要求3所述的集成电路高低温测试装置，其特征在于：还包括盖板，所述盖板中间设置有空腔，所述定位块、压块、铜块、第一散热块、第二散热块和散热片组依次放置在所述空腔内。 

5.如权利要求4所述的集成电路高低温测试装置，其特征在于：所述盖板的两侧面分别设置有能拆卸连接的挂钩；所述下框两侧分别设置有一卡口，所述两挂钩分别卡接在所述两卡口内。 

6.如权利要求4所述的集成电路高低温测试装置，其特征在于：还包括设置在所述盖板上端的一挂口限位圈，所述挂口限位圈上端设置有与其旋转定位的旋盖；所述风扇外侧设置有风扇安装座；所述散热片组和所述风扇之间设置有外螺纹空心管；所述外螺纹空心管、风扇和风扇安装座放置在由 旋盖和挂口限位圈组成的空腔内。 

7.如权利要求6所述的集成电路高低温测试装置，其特征在于：所述挂口限位圈上端圆周上设置有两卡条，所述旋盖下端的圆周上设置有与所述两卡条相适配的两凹口。 

8.如权利要求6或7所述的集成电路高低温测试装置，其特征在于：所述旋盖上端设置有把手。 

9.如权利要求1-7中任一项中所述的集成电路高低温测试装置，其特征在于：所述测试盘为测试电路板上的覆铜箔。