[实用新型]键盘寿命测试装置

说明书

【技术领域】

本实用新型涉及一种测试装置，特别是涉及一种键盘寿命测试装置。

【背景技术】

随着生活水平的提高，人们对电子产品的质量要求也越来越高。为了保证电子产品的质量，在电子产品出货前都会对按键进行耐久（信赖性）测试，以保证电子产品的按键在使用过程中能保持良好的电性性能。

传统的对按键的耐久测试，是直接在系统内设置按键开/关的次数。例如，针对笔记本电脑键盘中普通键和功能键寿命的测试，其中普通键设置2000万次下压，功能键设置1000万次下压。关于笔记本电脑键盘寿命的测试，一般是在寿命测试机上每200万次或100万次下压后，将键盘取出安装到规格型号的机台上来验证每个按键的功能是否合格，如果合格则继续安装在寿命测试机上测试，如果不合格则取下进行分析改善。

然而，上述测试的方法必须要等到一定的测试次数后，才能确认被测键盘是否出现不合格的现象，如果键盘在达到测试次数之前已产生不良现象，之后的测试就是浪费时间及电力。另外，在键盘每达到一定测试次数，就必须取下键盘、拆卸机台后，以安装确认被测键盘是否出现不良现象，如此的频繁的拆卸安装机台及停始寿命测试机不仅浪费了大量时间更浪费了大量精力。

有鉴于此，实有必要提供一种键盘寿命测试装置，以解决上述问题。

【发明内容】

因此，本实用新型的目的是提供一种键盘寿命测试装置，以解决上述键盘寿命测试方法浪费时间、浪费电力及浪费精力的问题。

为了达到上述目的，本实用新型提供的键盘寿命测试装置，其应用于笔记本电脑键盘测试中，所述键盘上具有标注不同数字的按键，所述按键包括分布于网格矩阵边缘的入口及出口，所述入口具有第一至第十六信号引脚，所述出口具有第十七至第二十四信号引脚，所述测试装置包括：

键盘排线，其具有第一至第二十四端子，所述的第一至第十六端子依次对应所述按键入口的第一至第十六信号引脚，所述第十七至第二十四端子依次对应所述按键出口的第十七至第二十四信号引脚；

键盘连接器,其具有与所述第一至第二十四端子对应的第一至第二十四引脚，所述键盘连接器的一端与所述键盘排线连接；

若干测试电路，其包括一显示单元、一供电单元及一导线，所述显示单元及供电单元均电性串接于所述导线中，所述导线的一端接所述第一至第十六引脚中的任意一引脚，所述导线的另一端接所述第十七至第二十四引脚中的任意一引脚。

可选的，所述测试电路具有三个，所述测试电路的数量对应测试所述按键的数量。

可选的，所述显示单元为LED灯。

可选的，所述供电单元为1.5V电池。

相较于现有技术，本实用新型键盘寿命测试装置，可以随时监测被测试按键的状态，避免了被测试按键已经不良还在继续测试，从而节省了时间和电力；该键盘寿命测试装置无需每测试百万次就必须取下键盘，从而节省了精力和避免频繁的拆卸安装机台及停始寿命测试机。

【附图说明】

图1绘示为本实用新型键盘寿命测试装置一较佳实施例的键盘矩阵图。

图2绘示为图1在键盘上的按键分布图。

图3绘示为本实用新型键盘寿命测试装置一较佳实施例的结构示意图。

【具体实施方式】

一般键盘的按键都是利用矩阵图控制而实现相应的功能，即由所述矩阵图中的行线及列线确定所述按键的坐标位，当该坐标位上的按键被下压时，内部电路会因接触而导通，从而产生该坐标所表示特定的字符型号。请参阅图1及图2绘示，根据需要对三个按键进行寿命测试。

为了达到上述目的，请参阅图3绘示，本实用新型提供的键盘寿命测试装置，其应用于笔记本电脑键盘测试中，所述键盘100上具有标注不同数字的按键200，所述按键200包括分布于网格矩阵边缘的入口及出口，所述入口具有第一至第十六信号引脚（1～～16），所述出口具有第十七至第二十四信号引脚（17～～24），所述测试装置包括：

键盘排线300，其具有第一至第二十四端子，所述的第一至第十六端子依次对应所述按键入口的第一至第十六信号引脚（1～～16），所述第十七至第二十四端子依次对应所述按键出口的第十七至第二十四信号引脚（17～～24）；

键盘连接器400,其具有与所述第一至第二十四端子对应的第一至第二十四引脚（1’～～24’），所述键盘连接器400的一端与所述键盘排线300连接；